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結(jié)合飛納臺式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統(tǒng)，以快速、簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析，代表著微觀顆粒分析技術(shù)的一大進步?？焖?、易用和超清晰成像質(zhì)量的飛納臺式掃描電鏡...
第七代高性價比掃描電鏡 電子顯微鏡Phenom Pure 裝配的基本組件可以滿足高分辨率成像的要求，這些基本組件不僅可以保證電鏡高質(zhì)量的成像，而且能夠?qū)崿F(xiàn)快速裝...
加快材料研究的突破性進展，您的實驗室需要一臺具備快速準確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 Phenom ProX 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代...
Phenom Particle Metric顆粒測試以較快、較簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術(shù)的一大進步?？焖?、易用和超清晰圖像質(zhì)量的Phen...
荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發(fā)射電子源臺式掃描電鏡 Phenom Pharos G2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發(fā)射...
第七代飛納臺式掃描電鏡高分辨率專業(yè)版Phenom Pro 是一款功能*，輕松易用的多功能設(shè)備。長壽命、高亮度 CeB6 燈絲擴展了研究設(shè)備的功能，結(jié)合豐富的樣品...
全新的易于學習的界面可幫助您快速掌握新信息，是各種應(yīng)用的理想選擇。Phenom XL G2 臺式掃描電鏡大樣品室版升級為全面屏成像，平均成像時間僅為 40 秒，...
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