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Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于材料失效分析，幫助觀察斷口、裂紋、腐蝕和表面缺陷形貌。Phenom XL G3 平均成像時間約 ...

掩膜版｜保護膜表面顆粒物快速檢測系統(tǒng)（PDS）為掩膜版、掩膜版保護膜以及基板（襯底）制造工藝，提供高通量的表面顆粒污染檢測服務。該系統(tǒng)對粒徑大于 0.1μm 的...

Fastmicro 晶圓表面顆粒物快速檢測系統(tǒng)（PDS)，專為各行業(yè)產品表面顆粒污染物直接測量而設計，主要應用于半導體領域的晶圓、薄膜及光罩檢測，也可用于顯示市...

Fastmicro 儀器表面顆粒物分析儀，是一款基于“膠帶粘取"采樣技術的表面污染檢測工具，可通過間接測量方式識別小至 0.5um 的顆粒污染物。其配備的專用 ...

Fastmicro 環(huán)境落塵顆粒實時監(jiān)控儀，專為潔凈室顆粒沉積速率測量而研發(fā)，支持秒級間隔的數據采集，精準測量 0.5 um 以上顆粒。結合直觀易用的軟件系統(tǒng)，...

TechnoorgLinda精修離子束系統(tǒng)的低能氬離子槍（GIB） 適用于表面減薄、其他表面處理后的后處理、清潔以及去除無定形和氧 化物表面層。 當低能氬離子槍...

SEMPREP SMART離子研磨儀配備了高能量和可選的低能量氬離子槍。這款設備是用于掃描電子顯微鏡(SEM)和電子背散射衍射(EBSD)樣品的最終加工和清潔的...

ParticleX Battery 全自動鋰電清潔度分析系統(tǒng)可以全自動對正負極中的鐵類雜質顆粒進行快速識別、分析和分類統(tǒng)計，整個過程無需人工參與。定量磁性雜質顆...

臺式離子研磨拋光儀 SEMPrep2 作為新一代的高精密氬離子研磨系統(tǒng)，可以滿足研究人員苛刻的研磨需求。集成式多功能截面拋削以及無損平面拋光系統(tǒng)，為 SEM 以...

VSParticle 致力于提供快捷的納米材料研究方式，團隊基于“火花燒蝕"技術將導電靶材快速轉換為納米氣溶膠，為您解鎖納米材料研究新方案。

PANDORA 是高度集成的臺式原子層沉積系統(tǒng)，可擺放在實驗室的任意角落，采用旋轉式反應腔實現(xiàn)對粉末材料的分散，有更高的兼容性。對于平面樣品，則可快速插入平面反...

P 系列是 Forge Nano 針對工業(yè)包覆研發(fā)的粉末 ALD 負載系統(tǒng)，可實現(xiàn) kg 級粉末批量包覆，是工業(yè)生產前理想的研發(fā)工具?！驹訉映练e多少錢】

秉承飛納臺式掃描電鏡系列全自動操作、快速成像、不噴金觀看不導電樣品、*防震、性能穩(wěn)定的特點，荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發(fā)射電子源臺式場發(fā)射電鏡 Phenom...

Thermo Scientific? Apreo SEM 場發(fā)射電鏡具有多功能性和高質量成像性能，即使是磁性樣品或是傳統(tǒng)意義上成像非常困難的樣品也可以實現(xiàn)成像性...

對高分辨率成像來說， 桌面掃描電鏡 Phenom Pure 是經濟節(jié)約型的產品，與同類產品相比，它能提供更佳的成像效果。

來自飛納桌面電鏡 臺式大倉室自動化掃描電鏡 ，可自動進行質量控制，并提供準確、可重復的檢測結果，讓您騰出時間進行其他更有價值的工作。

第六代 Phenom Pro 臺式掃描電鏡是一款功能*，輕松易用的多功能設備。長壽命、高亮度 CeB6 燈絲擴展了研究設備的功能，結合豐富的樣品杯選件和拓展的全...

加快材料研究的突破性進展，您的實驗室需要一臺具備快速準確分析大量材料微觀結構的掃描電鏡。第七代飛納臺式掃描電鏡能譜一體機 Phenom ProX引入了全新一代操...

使用飛納臺式掃描電鏡的顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)，以快速、簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析。飛納臺式電鏡粒度分析測量系統(tǒng)支持用戶收集多種亞微米顆粒的形態(tài)和尺寸數據。

結合飛納臺式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統(tǒng)，以快速、簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析，代表著微觀顆粒分析技術的一大進步?？焖?、易用和超清晰成像質量的飛納臺式掃描電鏡...