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掩膜版｜保護(hù)膜表面顆粒物快速檢測系統(tǒng)（PDS）為掩膜版、掩膜版保護(hù)膜以及基板（襯底）制造工藝，提供高通量的表面顆粒污染檢測服務(wù)。該系統(tǒng)對粒徑大于 0.1μm 的...

Fastmicro 晶圓表面顆粒物快速檢測系統(tǒng)（PDS)，專為各行業(yè)產(chǎn)品表面顆粒污染物直接測量而設(shè)計(jì)，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體領(lǐng)域的晶圓、薄膜及光罩檢測，也可用于顯示市...

Fastmicro 儀器表面顆粒物分析儀，是一款基于“膠帶粘取"采樣技術(shù)的表面污染檢測工具，可通過間接測量方式識別小至 0.5um 的顆粒污染物。其配備的專用 ...

Fastmicro 環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀，專為潔凈室顆粒沉積速率測量而研發(fā)，支持秒級間隔的數(shù)據(jù)采集，精準(zhǔn)測量 0.5 um 以上顆粒。結(jié)合直觀易用的軟件系統(tǒng)，...

TechnoorgLinda精修離子束系統(tǒng)的低能氬離子槍（GIB） 適用于表面減薄、其他表面處理后的后處理、清潔以及去除無定形和氧 化物表面層。 當(dāng)?shù)湍軞咫x子槍...

SEMPREP SMART離子研磨儀配備了高能量和可選的低能量氬離子槍。這款設(shè)備是用于掃描電子顯微鏡(SEM)和電子背散射衍射(EBSD)樣品的最終加工和清潔的...

ParticleX Battery 全自動鋰電清潔度分析系統(tǒng)可以全自動對正負(fù)極中的鐵類雜質(zhì)顆粒進(jìn)行快速識別、分析和分類統(tǒng)計(jì)，整個(gè)過程無需人工參與。定量磁性雜質(zhì)顆...

臺式離子研磨拋光儀 SEMPrep2 作為新一代的高精密氬離子研磨系統(tǒng)，可以滿足研究人員苛刻的研磨需求。集成式多功能截面拋削以及無損平面拋光系統(tǒng)，為 SEM 以...

VSParticle 致力于提供快捷的納米材料研究方式，團(tuán)隊(duì)基于“火花燒蝕"技術(shù)將導(dǎo)電靶材快速轉(zhuǎn)換為納米氣溶膠，為您解鎖納米材料研究新方案。

PANDORA 是高度集成的臺式原子層沉積系統(tǒng)，可擺放在實(shí)驗(yàn)室的任意角落，采用旋轉(zhuǎn)式反應(yīng)腔實(shí)現(xiàn)對粉末材料的分散，有更高的兼容性。對于平面樣品，則可快速插入平面反...

P 系列是 Forge Nano 針對工業(yè)包覆研發(fā)的粉末 ALD 負(fù)載系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn) kg 級粉末批量包覆，是工業(yè)生產(chǎn)前理想的研發(fā)工具。【原子層沉積多少錢】

秉承飛納臺式掃描電鏡系列全自動操作、快速成像、不噴金觀看不導(dǎo)電樣品、*防震、性能穩(wěn)定的特點(diǎn)，荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發(fā)射電子源臺式場發(fā)射電鏡 Phenom...

Thermo Scientific? Apreo SEM 場發(fā)射電鏡具有多功能性和高質(zhì)量成像性能，即使是磁性樣品或是傳統(tǒng)意義上成像非常困難的樣品也可以實(shí)現(xiàn)成像性...

對高分辨率成像來說， 桌面掃描電鏡 Phenom Pure 是經(jīng)濟(jì)節(jié)約型的產(chǎn)品，與同類產(chǎn)品相比，它能提供更佳的成像效果。

來自飛納桌面電鏡 臺式大倉室自動化掃描電鏡 ，可自動進(jìn)行質(zhì)量控制，并提供準(zhǔn)確、可重復(fù)的檢測結(jié)果，讓您騰出時(shí)間進(jìn)行其他更有價(jià)值的工作。

第六代 Phenom Pro 臺式掃描電鏡是一款功能*，輕松易用的多功能設(shè)備。長壽命、高亮度 CeB6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能，結(jié)合豐富的樣品杯選件和拓展的全...

加快材料研究的突破性進(jìn)展，您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第七代飛納臺式掃描電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX引入了全新一代操...

使用飛納臺式掃描電鏡的顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)，以快速、簡便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析。飛納臺式電鏡粒度分析測量系統(tǒng)支持用戶收集多種亞微米顆粒的形態(tài)和尺寸數(shù)據(jù)。

結(jié)合飛納臺式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統(tǒng)，以快速、簡便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，代表著微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步。快速、易用和超清晰成像質(zhì)量的飛納臺式掃描電鏡...

第七代高性價(jià)比掃描電鏡 電子顯微鏡Phenom Pure 裝配的基本組件可以滿足高分辨率成像的要求，這些基本組件不僅可以保證電鏡高質(zhì)量的成像，而且能夠?qū)崿F(xiàn)快速裝...