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表面缺陷和截面形貌。Phenom XL G3 平均成像時(shí)間約 40 秒，可對最大 100 x 100 mm 的樣品進(jìn)行分析，適合較大尺寸樣品或多樣品檢測場景。設(shè)...

Phenom Pharos G2 是飛納推出的臺式場發(fā)射掃描電鏡，可用于光伏材料缺陷分析，幫助觀察電池片、薄膜和相關(guān)材料的微觀缺陷。Phenom Pharos ...

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于半導(dǎo)體失效分析場景中的封裝、焊點(diǎn)、線路板和器件表面形貌觀察。Phenom XL G3 平均成像時(shí)...

Phenom ProX G7 是飛納推出的臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)，可用于建筑材料微區(qū)元素分析，幫助觀察水泥、混凝土、礦物顆粒等樣品。Phenom ProX G7...

Phenom Pharos G2 是飛納推出的臺式場發(fā)射掃描電鏡，可用于鋰電材料微觀結(jié)構(gòu)觀察，幫助分析正負(fù)極材料、導(dǎo)電劑、隔膜等樣品形貌。Phenom Phar...

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于藥包材研發(fā)檢測，幫助觀察不同包裝材料的表面形貌、斷面結(jié)構(gòu)和缺陷特征。Phenom XL G3 平...

ParticleX Battery 是飛納推出的自動化分析系統(tǒng)，可用于鋰電池銅、鋅、鐵等金屬異物自動識別、分析和統(tǒng)計(jì)。ParticleX Battery 基于掃...

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于PCB板缺陷分析，幫助觀察線路板表面形貌、孔壁結(jié)構(gòu)和缺陷區(qū)域。Phenom XL G3 平均成像...

Phenom ProX G7 是飛納推出的臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)，可用于電子元器件異物成分分析，幫助觀察異物形貌并輔助判斷來源。Phenom ProX G7 電...

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于制藥企業(yè)質(zhì)檢場景中的藥包材、過濾物、包裝材料等樣品觀察與分析。Phenom XL G3 平均成像...

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于藥液過濾物顆粒觀察，幫助獲取顆粒形貌、尺寸和污染物特征信息。Phenom XL G3 平均成像時(shí)...

ParticleX Battery 是飛納推出的全自動鋰電清潔度分析系統(tǒng)，可用于鋰電池原材料顆粒異物檢測，幫助判斷異物類型和來源。ParticleX Batte...

Phenom Pharos G2 是飛納推出的臺式場發(fā)射掃描電鏡，可用于超硬材料微觀形貌分析，幫助觀察金剛石、硬質(zhì)合金等樣品表面和斷面結(jié)構(gòu)。Phenom Pha...

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于玻璃藥瓶內(nèi)表面觀察，幫助分析內(nèi)表面侵蝕、脫片風(fēng)險(xiǎn)相關(guān)形貌和顆粒信息。Phenom XL G3 平...

Phenom ProX G7 是飛納推出的臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)，可用于新能源材料SEM-EDS分析，幫助觀察材料形貌和微區(qū)元素信息。Phenom ProX G...

Phenom Pharos G2 是飛納推出的臺式場發(fā)射掃描電鏡，可用于陶瓷晶粒高分辨觀察，幫助分析晶粒、孔隙、斷面和缺陷形貌。Phenom Pharos G2...

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于藥用包裝材料檢測中的表面形貌、污染顆粒和材料結(jié)構(gòu)觀察。Phenom XL G3 平均成像時(shí)間約 ...

Phenom ProX G7 是飛納推出的臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)，可用于陶瓷材料元素分析，幫助觀察晶粒、孔隙、斷面和局部成分。Phenom ProX G7 電子...

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于藥包材表面形貌分析，幫助觀察包裝材料表面缺陷、顆粒污染物及微觀結(jié)構(gòu)特征。Phenom XL G3...

ParticleX Battery 是飛納推出的鋰電清潔度分析系統(tǒng)，可用于磷酸鐵鋰材料中的金屬異物識別、成分分析和分類統(tǒng)計(jì)。ParticleX Battery ...