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半導(dǎo)體封裝觀察用飛納大倉(cāng)室掃描電鏡
表面缺陷和截面形貌。Phenom XL G3 平均成像時(shí)間約 40 秒，可對(duì)最大 100 x 100 mm 的樣品進(jìn)行分析，適合較大尺寸樣品或多樣品檢測(cè)場(chǎng)景。設(shè)...

型號(hào)： Phenom XL... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/9/3 14:02:29 對(duì)比

Phenom XL G3半導(dǎo)體封裝觀察芯片封裝分析大倉(cāng)室掃描電鏡臺(tái)式掃描電鏡
光伏材料缺陷分析用飛納場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
Phenom Pharos G2 是飛納推出的臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，可用于光伏材料缺陷分析，幫助觀察電池片、薄膜和相關(guān)材料的微觀缺陷。Phenom Pharos ...

型號(hào)： Phenom Ph... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/9/3 13:58:46 對(duì)比

Phenom Pharos G2太陽(yáng)能電池片SEM臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射電鏡場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡光伏材料缺陷
用于半導(dǎo)體失效分析的飛納臺(tái)式掃描電鏡
Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于半導(dǎo)體失效分析場(chǎng)景中的封裝、焊點(diǎn)、線路板和器件表面形貌觀察。Phenom XL G3 平均成像時(shí)...

型號(hào)： Phenom XL... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/9/2 11:43:10 對(duì)比

Phenom XL G3半導(dǎo)體失效分析封裝缺陷觀察臺(tái)式掃描電鏡大倉(cāng)室掃描電鏡
建筑材料微區(qū)元素分析用飛納電鏡能譜一體機(jī)
Phenom ProX G7 是飛納推出的臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)，可用于建筑材料微區(qū)元素分析，幫助觀察水泥、混凝土、礦物顆粒等樣品。Phenom ProX G7...

型號(hào)： Phenom Pr... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/9/2 11:38:47 對(duì)比

Phenom ProX G7建筑材料元素分析水泥SEM電鏡能譜一體機(jī)臺(tái)式掃描電鏡
鋰電材料微觀結(jié)構(gòu)觀察用飛納場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
Phenom Pharos G2 是飛納推出的臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，可用于鋰電材料微觀結(jié)構(gòu)觀察，幫助分析正負(fù)極材料、導(dǎo)電劑、隔膜等樣品形貌。Phenom Phar...

型號(hào)： Phenom Ph... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/9/1 13:32:38 對(duì)比

Phenom Pharos G2正負(fù)極材料SEM鋰電材料微觀結(jié)構(gòu)場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射電鏡
藥包材研發(fā)檢測(cè)用飛納大倉(cāng)室電鏡
Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于藥包材研發(fā)檢測(cè)，幫助觀察不同包裝材料的表面形貌、斷面結(jié)構(gòu)和缺陷特征。Phenom XL G3 平...

型號(hào)： Phenom XL... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/9/1 13:29:05 對(duì)比

Phenom XL G3藥包材研發(fā)檢測(cè)包裝材料形貌分析臺(tái)式掃描電鏡大倉(cāng)室電鏡
鋰電池銅鋅鐵異物自動(dòng)分析設(shè)備
ParticleX Battery 是飛納推出的自動(dòng)化分析系統(tǒng)，可用于鋰電池銅、鋅、鐵等金屬異物自動(dòng)識(shí)別、分析和統(tǒng)計(jì)。ParticleX Battery 基于掃...

型號(hào)： ParticleX... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/8/31 13:10:43 對(duì)比

自動(dòng)顆粒分析金屬顆粒識(shí)別鋰電清潔度分析自動(dòng)分析設(shè)備銅鋅鐵異物
PCB板缺陷分析用飛納臺(tái)式掃描電鏡
Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于PCB板缺陷分析，幫助觀察線路板表面形貌、孔壁結(jié)構(gòu)和缺陷區(qū)域。Phenom XL G3 平均成像...

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Phenom XL G3PCB板缺陷分析線路板SEM觀察飛納臺(tái)式掃描電鏡大倉(cāng)室掃描電鏡
電子元器件異物成分分析用飛納掃描電鏡
Phenom ProX G7 是飛納推出的臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)，可用于電子元器件異物成分分析，幫助觀察異物形貌并輔助判斷來(lái)源。Phenom ProX G7 電...

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Phenom ProX G7電子元器件異物PCB缺陷分析電鏡能譜一體機(jī)掃描電鏡能譜
制藥企業(yè)質(zhì)檢用飛納臺(tái)式掃描電鏡
Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于制藥企業(yè)質(zhì)檢場(chǎng)景中的藥包材、過(guò)濾物、包裝材料等樣品觀察與分析。Phenom XL G3 平均成像...

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Phenom XL G3制藥企業(yè)質(zhì)檢藥包材檢測(cè)臺(tái)式掃描電鏡大倉(cāng)室掃描電鏡
藥液過(guò)濾物顆粒觀察用飛納掃描電鏡
Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于藥液過(guò)濾物顆粒觀察，幫助獲取顆粒形貌、尺寸和污染物特征信息。Phenom XL G3 平均成像時(shí)...

型號(hào)： Phenom XL... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/8/27 14:10:36 對(duì)比

Phenom XL G3藥液過(guò)濾物顆粒觀察制藥顆粒污染物飛納掃描電鏡大倉(cāng)室掃描電鏡
鋰電池原材料顆粒異物檢測(cè)用飛納
ParticleX Battery 是飛納推出的全自動(dòng)鋰電清潔度分析系統(tǒng)，可用于鋰電池原材料顆粒異物檢測(cè)，幫助判斷異物類型和來(lái)源。ParticleX Batte...

型號(hào)： ParticleX... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/8/27 13:57:14 對(duì)比

ParticleX Battery顆粒異物檢測(cè)鋰電清潔度分析自動(dòng)顆粒分析鋰電池原材料
超硬材料微觀形貌分析用飛納臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射SEM
Phenom Pharos G2 是飛納推出的臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，可用于超硬材料微觀形貌分析，幫助觀察金剛石、硬質(zhì)合金等樣品表面和斷面結(jié)構(gòu)。Phenom Pha...

型號(hào)： Phenom Ph... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/8/26 11:30:12 對(duì)比

Phenom Pharos G2超硬材料形貌金剛石材料觀察臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
玻璃藥瓶?jī)?nèi)表面觀察用飛納臺(tái)式掃描電鏡
Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于玻璃藥瓶?jī)?nèi)表面觀察，幫助分析內(nèi)表面侵蝕、脫片風(fēng)險(xiǎn)相關(guān)形貌和顆粒信息。Phenom XL G3 平...

型號(hào)： Phenom XL... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/8/25 13:19:03 對(duì)比

Phenom XL G3玻璃藥瓶?jī)?nèi)表面觀察臺(tái)式掃描電鏡大倉(cāng)室掃描電鏡藥包材相容性
新能源材料SEM-EDS分析用飛納電鏡
Phenom ProX G7 是飛納推出的臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)，可用于新能源材料SEM-EDS分析，幫助觀察材料形貌和微區(qū)元素信息。Phenom ProX G...

型號(hào)： Phenom Pr... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/8/25 13:14:20 對(duì)比

Phenom ProX G7新能源材料SEMEDS元素分析飛納電鏡電鏡能譜一體機(jī)
陶瓷晶粒高分辨觀察用飛納場(chǎng)發(fā)射電鏡
Phenom Pharos G2 是飛納推出的臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，可用于陶瓷晶粒高分辨觀察，幫助分析晶粒、孔隙、斷面和缺陷形貌。Phenom Pharos G2...

型號(hào)： Phenom Ph... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/8/24 14:12:43 對(duì)比

Phenom Pharos G2陶瓷晶粒觀察陶瓷材料SEM場(chǎng)發(fā)射電鏡材料分析儀器
藥用包裝材料檢測(cè)用飛納大倉(cāng)室掃描電鏡
Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于藥用包裝材料檢測(cè)中的表面形貌、污染顆粒和材料結(jié)構(gòu)觀察。Phenom XL G3 平均成像時(shí)間約 ...

型號(hào)： Phenom XL... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/8/24 14:04:03 對(duì)比

Phenom XL G3藥用包裝材料檢測(cè)藥包材檢測(cè)設(shè)備大倉(cāng)室掃描電鏡
陶瓷材料元素分析用飛納臺(tái)式SEM
Phenom ProX G7 是飛納推出的臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)，可用于陶瓷材料元素分析，幫助觀察晶粒、孔隙、斷面和局部成分。Phenom ProX G7 電子...

型號(hào)： Phenom Pr... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/8/20 14:29:23 對(duì)比

飛納電鏡陶瓷材料元素分析陶瓷SEM臺(tái)式SEM能譜電鏡能譜一體機(jī)
藥包材表面形貌分析用飛納臺(tái)式掃描電鏡
Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于藥包材表面形貌分析，幫助觀察包裝材料表面缺陷、顆粒污染物及微觀結(jié)構(gòu)特征。Phenom XL G3...

型號(hào)： Phenom XL... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/8/20 14:25:38 對(duì)比

Phenom XL G3藥包材表面形貌分析包裝材料SEM觀察飛納掃描電鏡臺(tái)式掃描電鏡
磷酸鐵鋰金屬異物檢測(cè)用飛納鋰電清潔度分析
ParticleX Battery 是飛納推出的鋰電清潔度分析系統(tǒng)，可用于磷酸鐵鋰材料中的金屬異物識(shí)別、成分分析和分類統(tǒng)計(jì)。ParticleX Battery ...

型號(hào)： ParticleX... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/8/19 15:05:43 對(duì)比

ParticleX Battery正極材料質(zhì)控鋰電清潔度分析自動(dòng)顆粒分析磷酸鐵鋰異物

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