產(chǎn)品名稱：箔片厚度測試儀 高精度測厚儀 膜厚測量儀
產(chǎn)品型號：C640
產(chǎn)品報價：濟南蘭光詳詢！
產(chǎn)品介紹：箔片厚度測試儀 高精度測厚儀 膜厚測量儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

產(chǎn)品特點：
專業(yè)——Labthink在不斷的創(chuàng)新研發(fā)和技術(shù)積累中推陳出新，使用超高精度的位移傳感器、科學的結(jié)構(gòu)布局及專業(yè)的控制技術(shù)，實現(xiàn)的測試穩(wěn)定性、重復(fù)性及精度。
高效——采用高效率、自動化結(jié)構(gòu)設(shè)計，有效簡化人員參與過程；智能的控制及數(shù)據(jù)處理功能，為用戶提供更便捷可靠的試驗操作和結(jié)果處理。
智能——搭載Labthink版控制分析軟件，具有友好的操作界面、智能的數(shù)據(jù)處理、嚴格的人員權(quán)限管理和安全的數(shù)據(jù)存儲；支持Labthink*的DataShieldTM數(shù)據(jù)盾系統(tǒng)注3（可選配置），為用戶提供極為安全可靠的測試數(shù)據(jù)和測試報告管理功能。

測試原理：
將預(yù)先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上，與下測量面平行且中心對齊的上測量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。

技術(shù)參數(shù)：
C640M
測試范圍（標配）        0～2mm
分辨率                  0.1μm
重復(fù)性                  0.8μm
測量范圍（選配1）       0～6mm
測量范圍（選配2）       0～12mm
測量間距                0～1000（可設(shè)定）mm
進樣速度                1.5～80（可設(shè)定）mm/s
測量方式機械接觸式
測量壓力及接觸面積薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2
紙張：100±1 kPa(標準配置) / 50±1 kPa（可選配置）、200 mm2
C640H
測試范圍（標配）        0～2mm
分辨率                  0.1μm
重復(fù)性                  0.4μm
測量范圍（選配1）       0～6mm
測量范圍（選配2）       0～12mm
測量間距                0～1000（可設(shè)定）mm
進樣速度                1.5～80（可設(shè)定）mm/s
測量方式機械接觸式
測量壓力及接觸面積薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2
紙張：100±1 kPa(標準配置) / 50±1 kPa（可選配置）、200 mm2

參照標準：
ISO 4593、ISO 534、ASTM/D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM/D374、ASTM /D1777、ASTM/D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702
中國《藥品生產(chǎn)質(zhì)量管理規(guī)范》（GMP）對軟件的有關(guān)要求（可選配置）
ISO 4593-1993 塑料薄膜和薄板機械掃描測定厚度
ISO 534-2011 紙和紙板--厚度、密度和比容積的測定
ISO 3034-2011 瓦楞紙板--單張厚度的測定
GB/T 6672-2001 塑料薄膜和薄片厚度測定機械測量法
GB/T 451.3-2002 紙和紙板厚度的測定
GB/T 6547-1998 瓦楞紙板厚度的測定法
ASTM/D374-1999 固體電工絕緣材料厚度的試驗方法
ASTM/D1777-1996(2007) 紡織材料厚度試驗方法
JIS K6250-1997 硫化橡膠及熱可塑性橡膠的物理試驗方法通則
JIS K6783-1994 農(nóng)業(yè)用乙烯乙酸乙烯共聚物薄膜
JIS Z1702-1994 包裝用聚乙烯薄膜
TAPPI T411、BS 3983、BS 4817