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加快材料研究的突破性進展，您的實驗室需要一臺具備快速準確分析大量材料微觀結構的掃描電鏡。第六代 Phenom ProX 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代...

Phenom Particle Metric顆粒測試以較快、較簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術的一大進步?？焖?、易用和超清晰圖像質量的Phen...

荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發(fā)射電子源臺式掃描電鏡 Phenom Pharos G2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發(fā)射...

第七代飛納臺式掃描電鏡高分辨率專業(yè)版Phenom Pro 是一款功能*，輕松易用的多功能設備。長壽命、高亮度 CeB6 燈絲擴展了研究設備的功能，結合豐富的樣品...

全新的易于學習的界面可幫助您快速掌握新信息，是各種應用的理想選擇。Phenom XL G2 臺式掃描電鏡大樣品室版升級為全面屏成像，平均成像時間僅為 40 秒，...

臺式離子研磨拋光儀 SEMPrep2 作為新一代的高精密氬離子研磨系統(tǒng)，可以滿足研究人員苛刻的研磨需求。集成式多功能截面拋削以及無損平面拋光系統(tǒng)，為 SEM 以...