全功能SEM滿足多用戶實(shí)驗(yàn)室綜合應(yīng)用需求

Prisma TM EX 掃描電鏡結(jié)合了全面的成像性能和環(huán)境模式（ESEM），同時(shí)配置了全功能EDX探測(cè)器實(shí)現(xiàn)*的元素分析。

如今的研究對(duì)象已經(jīng)超出簡(jiǎn)單金屬和涂層樣品的范疇。Prisma EX 分析SEM 可生成高質(zhì)量的圖像和分析，從金屬、斷口和拋光片等傳統(tǒng)樣品，到不導(dǎo)電軟材料。Prisma EX 是適用于當(dāng)前和未來研究應(yīng)用的靈活解決方案。它具有三種成像模式（高真空、低真空和ESEM™），能夠處理的樣品類型很多。

有了UltraDry EDS 探測(cè)器和Pathfinder 軟件平臺(tái)提供的快速準(zhǔn)確元素分析，樣品表征才變得完備。

Prisma EX具有易用、靈活的用戶界面及各種功能，提高工作效率，并收集所有數(shù)據(jù)。導(dǎo)航功能包括自動(dòng)導(dǎo)航拼接、雙擊載物臺(tái)移動(dòng)、拖動(dòng)縮放和其他有用的標(biāo)準(zhǔn)功能。SmartSCAN™ 技術(shù)用于執(zhí)行智能掃描策略，從而減少噪點(diǎn)，提供更好的數(shù)據(jù)。

更好的數(shù)據(jù)。更大的靈活性。更高的效率。Prisma EX 為您的投資帶來更大的價(jià)值。

主要優(yōu)勢(shì)

在自然狀態(tài)下對(duì)材料進(jìn)行原位研究：在各種操作模式下分析導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品， 同步獲取二次電子像和背散射電子像。

縮短樣品制備時(shí)間：低真空和環(huán)境真空技術(shù)可針對(duì)不導(dǎo)電和/或含水樣品直接成像和分析，樣品表面無荷電累積。

配備Pathfinder 軟件平臺(tái)的UltraDry 探測(cè)器提供的 完備EDS  解決方案。

• EXTREME 元素面分布，并且在實(shí)時(shí)和處理后都對(duì)每個(gè)像素進(jìn)行背景扣除、峰值反卷積和定量分析

• 自動(dòng)漂移補(bǔ)償

• 為離線分析和處理提供無限軟件許可

優(yōu)異的不導(dǎo)電樣品分析功能：借助多級(jí)穿過透鏡的真空系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量EDS 和 低真空分析。

利用穩(wěn)定的大束流 （高達(dá)2μA）電子光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確的分析快速、準(zhǔn)確的分析。

高精度優(yōu)中心樣品臺(tái)，105°傾斜角度范圍，可觀察樣品

軟件直觀、簡(jiǎn)便易用，配置用戶向?qū)Ъ癠ndo（撤銷）功能，新手用戶可進(jìn)行高效操作，專家用戶也可進(jìn)行更少的操作，完成快速分析。