塑料薄膜看起來厚度均勻，但在實(shí)際生產(chǎn)中，擠出、吹膜、拉伸以及復(fù)合工藝的細(xì)微變化，都可能造成橫向或不同位置厚度不一致。對于只有幾十微米甚至更薄的材料而言，這種差異雖然肉眼難以發(fā)現(xiàn)，卻可能進(jìn)一步影響材料的拉伸性能、熱封效果、阻隔性能以及單位面積用料。

三泉中石CHY-S塑料薄膜測厚儀，采用接觸式機(jī)械測量原理，分辨率可達(dá)1 μm，可用于塑料薄膜、復(fù)合膜、紙張、紙板、金屬箔片及硬片等材料的厚度測量。

薄膜厚度為什么不能隨便“量一下”？

GB/T 6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度測定 機(jī)械測量法》等同采用ISO 4593:1993，規(guī)定了塑料薄膜和薄片采用機(jī)械方法進(jìn)行厚度測量的試驗(yàn)方法。

這類測量并不是簡單使用卡尺夾住薄膜讀取數(shù)字。

薄膜材料本身較軟，如果測頭下落過快、接觸壓力過大或者測試面積發(fā)生變化，都可能使試樣被壓縮，從而影響最終測量結(jié)果。因此，標(biāo)準(zhǔn)機(jī)械測量法需要在規(guī)定的測量面、壓力條件下，使測頭平緩接觸試樣。

三泉中石的塑料薄膜測厚儀CHY-S采用固定壓力、固定接觸面積的接觸式測試方式，測量頭自動(dòng)下降至試樣表面，減少人工按壓造成的力度差異，使薄膜不同位置之間的厚度數(shù)據(jù)更具有可比性。

需要注意的是，GB/T 6672-2001不適用于壓花薄膜或壓花薄片。

GB/T 6672-2001測厚時(shí)，取幾個(gè)點(diǎn)才合適？

薄膜厚度檢測不能只測一個(gè)位置，因?yàn)閱吸c(diǎn)數(shù)據(jù)很難反映整幅材料的厚度均勻性。

按照標(biāo)準(zhǔn)要求，應(yīng)在距樣品縱向端部約1 m處，沿橫向整個(gè)寬度截取寬度為100 mm的試樣。試樣除正常提交或包裝產(chǎn)生的折疊外，應(yīng)盡量避免折皺和其他明顯缺陷。

試樣在（23±2）℃條件下至少調(diào)節(jié)1小時(shí)后進(jìn)行檢測。正式測量前，還應(yīng)確認(rèn)試樣和測量儀接觸面沒有油污、灰塵等污染，并檢查儀器零點(diǎn)。

測量點(diǎn)數(shù)量則根據(jù)試樣長度確定：

• 試樣長度≤300 mm，測量10點(diǎn)；

• 300 mm＜試樣長度＜1500 mm，測量20點(diǎn)；

• 試樣長度≥1500 mm，至少測量30點(diǎn)。

對于未裁邊樣品，應(yīng)從距邊緣50 mm的位置開始測量。

通過多點(diǎn)測試，可以進(jìn)一步觀察薄膜橫向厚度是否穩(wěn)定，而不是只得到一個(gè)局部厚度值。

一臺設(shè)備為什么能測薄膜，也能測紙張？

不同材料雖然都需要檢測“厚度”，但材料硬度、壓縮性和表面狀態(tài)并不相同。

薄膜通常柔軟且厚度較小，測量時(shí)要盡量避免壓縮變形；紙張和紙板具有一定可壓縮性，其厚度測試又需要匹配相應(yīng)的測量壓力和測頭面積。

塑料薄膜測厚儀CHY-S可擴(kuò)展用于：

塑料薄膜與復(fù)合膜
用于包裝膜、復(fù)合包裝材料等微米級厚度測量。

紙張與紙板
更換相應(yīng)測量頭后，可用于紙張、紙板等材料厚度檢測，具體試驗(yàn)條件應(yīng)按照對應(yīng)紙張檢測標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。

金屬箔片
可用于鋁箔等薄型金屬材料的厚度檢測。

硬片及片材
適用于一定厚度范圍內(nèi)的塑料片材及其他硬質(zhì)材料。

因此，“紙張厚度測定儀”并不局限于紙張檢測，在匹配相應(yīng)測量頭和試驗(yàn)方法后，可以覆蓋多種軟質(zhì)、硬質(zhì)材料的厚度質(zhì)量控制。

塑料薄膜測厚儀CHY-S在實(shí)際測厚中的實(shí)用性

對于生產(chǎn)企業(yè)而言，每批材料往往需要檢測多個(gè)位置。如果全部采用人工記錄，不僅工作量大，后期進(jìn)行最大值、最小值和平均值比較也比較繁瑣。

三泉中石的塑料薄膜測厚儀CHY-S采用彩色液晶屏，可直接顯示單次測試結(jié)果及統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)；設(shè)備可自動(dòng)保存不少于500組測試結(jié)果，方便進(jìn)行歷史數(shù)據(jù)查詢。

儀器還配備微型打印機(jī)，可快速打印單次測量結(jié)果、最大值、最小值和平均值。

對于需要對不同批次薄膜進(jìn)行橫向厚度均勻性比較的企業(yè)，這種數(shù)據(jù)管理方式能夠幫助質(zhì)量人員更快發(fā)現(xiàn)局部偏厚、偏薄以及批次波動(dòng)問題。

為什么選擇Sumspring三泉中石？

厚度檢測看似基礎(chǔ)，但對于微米級薄膜而言，測量頭精度、施壓穩(wěn)定性、位移分辨率和數(shù)據(jù)重復(fù)性都會影響最終結(jié)果。Sumspring三泉中石圍繞薄膜、紙張及包裝材料物理性能檢測，形成了厚度、摩擦系數(shù)、拉伸、熱封、熱收縮、落鏢沖擊及密封性等系列化檢測設(shè)備。

三泉中石的CHY-S塑料薄膜測厚儀采用高精度測量系統(tǒng)，并可針對薄膜、紙張、紙板和金屬箔等不同材料配置相應(yīng)測量頭。三泉中石可根據(jù)用戶實(shí)際樣品、厚度范圍及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)的測試方法，提供儀器應(yīng)用方面的技術(shù)支持。