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詳細摘要： KSI V-Octo 八探頭大型超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)，該系統(tǒng)同時使用8只換能器，能限度的確?？焖賵D像采集和高效能。掃描速度：2000 mm/s,掃描范圍：100...

詳細摘要： KSI V-quattro四探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)，多工系統(tǒng)，四探頭系統(tǒng)，同時使用4只換能器,掃描速度：2000 mm/s, 掃描范圍：1000mm700mm

詳細摘要： KSI－Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)，聲學顯微成像系統(tǒng)和光學顯微成像系統(tǒng)的結合.換能器頻率范圍：100MHz2000MHz頻率實現高分辨率,放...

詳細摘要： KSI－ 凱斯安i-Ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng)，適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內部的裂縫或雜質就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達450mm，檢測時間...

詳細摘要： KSI i-Wafer晶圓缺陷檢測系統(tǒng)，是一款儀器，操作人員可選擇接收/拒絕標準，手動或自動檢測晶圓。在KSI i-Wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜...

詳細摘要： AFMinSEM 德國 Nano analytik（ParcanNano)針尖電子束光刻與掃描電子顯微鏡組合系統(tǒng),既可以在大氣環(huán)境下實現樣品快速表征，也可以集成...

詳細摘要： 英國Oxford 反應離子刻蝕機PlasmaPro 800 RIE，是結構緊湊、且使用方便的直開式系統(tǒng)，該系統(tǒng)為大批量晶圓和300mm晶圓上的反應離子蝕刻（RI...

詳細摘要： SPL德國Nano analytik(ParcanNano)針尖電子束光刻機，基于掃描針尖低能電子場發(fā)射的原理、采用壓阻式微納米針尖和多維納米定位與測量技術、在...

詳細摘要： SII 德國 Nano analytik（ParcanNano ）納米級精準定位的單離子注入機,基于新型掃描針尖精準定位的離子注入系統(tǒng)，實現有效控制注入半導體器...

詳細摘要： AFM 德國 Nano analytik（ParcanNano）高速原子力顯微鏡，它使用主動式智能針尖，集傳感器、驅動器和可功能化的針尖于一身，實現自激發(fā)和自傳...

詳細摘要： 美國SONIX 晶圓檢測設備 AutoWafe Pro.，是專為全自動晶圓檢測設計的機型，主要應用在Bond wafer，MEMS 內部空洞、離層檢測，TSV量...

詳細摘要： 美國Denton Vacuum 金/碳鍍膜機,內置泵系統(tǒng),極短的沉積時間,一致的沉積參數,圖形界面彩色觸摸板.

詳細摘要： 荷蘭TSST脈沖激光沉積/激光分子束外延系統(tǒng)，在真空環(huán)境下利用脈沖激光對靶材表面進行轟擊，利用激光產生的局域熱量將靶材物質轟擊出來，再沉積在不同的襯底上，從而形...

詳細摘要： Sentech 集成等離子刻蝕和沉積的多腔系統(tǒng)，SENTECH多腔系統(tǒng)包括等離子刻蝕和/或沉積腔體、傳送腔室、預真空室或片盒站。傳送腔室包括傳送機械手臂，可適用...

詳細摘要： 德國Sentech ALD實時監(jiān)測儀，SENTECH ALD實時監(jiān)測儀是一種新型的光學診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ALD循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特...

詳細摘要： SE 800 PV 激光橢偏儀，SENTECH設計了SE 800 PV，用于表征由SiNx/SiO2、SiNx/SiNy或SiNx/Al2O3組成的多層鈍化膜和...

詳細摘要： 激光橢偏儀SE 400adv PV.是化使用的標準儀器，用于測量PV單層防反射涂層的厚度和折射率指數。特別用于表征單晶和多晶硅太陽能電池上的SiNx 防反射單層...

詳細摘要： 德國Sentech光伏測量儀器 RT Inline， RT Inline薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng)，反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是RT Inline的設...

詳細摘要： 德國Sentech光伏測量儀MDPspot，靈活的自動掃描系統(tǒng)，具有成本效益的臺式少子壽命測試儀MDPspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個測量...

詳細摘要： 離線工具MDPmap是專為半導體晶片或部分工藝過的晶片的多功能、非接觸和少子壽命測量而設計的。MDPmap能夠連續(xù)地改變激發(fā)脈沖寬度，從非常短的脈沖(100ns...