CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900介紹

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點，在質(zhì)量管理到不良品分析有著廣泛的應用。用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業(yè)。

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900主要特點

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍：Ti22 – U92
可同時測定5層/15種元素
精度高、穩(wěn)定性好
*的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能
測量范圍寬
NIST認證的標準片
服務及支持

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900技術(shù)參數(shù)

主要規(guī)格 規(guī)格描述
X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng)
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
裝備有安全防射線光閘
二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
準直器程控交換系統(tǒng) zui多可同時裝配6種規(guī)格的準直器
多種規(guī)格尺寸準直器任選：
－圓形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，zui小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時，zui大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
樣品室 CMI900 CMI950
－樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室 開閉式樣品室
－zui大樣品臺尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm
－XY軸程控移動范圍 標準：152.4 x 177.8mm
還有5種規(guī)格任選 300mm x 300mm
－Z軸程控移動高度 43.18mm XYZ程控時，152.4mm
XY軸手動時，269.2mm
－XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
－樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標準放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。
激光自動對焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計算機系統(tǒng)配置 IBM計算機
惠普或愛普生彩色噴墨打印機
分析應用軟件 操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺
分析軟件包：SmartLink FP軟件包
－測厚范圍 可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。
－基本分析功能 采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應用提供必要的校正用標準樣品。
樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍：Ti22 – U92
可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測，如Au karat評價
材料和合金元素分析，
材料鑒別和分類檢測
液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
多達4個樣品的光譜同時顯示和比較
元素光譜定性分析
－調(diào)整和校正功能 系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能，自動消除系統(tǒng)漂移
－測量自動化功能 鼠標激活測量模式：“PointShoot”
多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式
測量位置預覽功能
激光對焦和自動對焦功能
－樣品臺程控功能 設定測量點
連續(xù)多點測量
測量位置預覽(圖表顯示)
－統(tǒng)計計算功能 平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖
數(shù)據(jù)庫存儲功能
任選軟件：統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
－系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 Z軸保護傳感器
樣品室門開閉傳感器
操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師