用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法

離子切片儀制備薄膜樣品除了需要將樣品切成矩形薄片外，不需要溶劑或化學(xué)試劑及前處理（打磨或凹坑研磨），比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。

主要特點(diǎn):

高質(zhì)量的透射電鏡樣品的前處理

快速制備

無需復(fù)雜的前處理

最小限度的表面損傷

產(chǎn)品規(guī)格

安裝條件

*請?zhí)峁┌卜旁O(shè)備的桌子。

*產(chǎn)品外觀及技術(shù)規(guī)格可能未經(jīng)預(yù)告而有所變更。