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詳細摘要： 產(chǎn)品簡介：IRLC 可以對硅晶片的表面之下和內部進行檢查, 使其內部結構以亞微米分辨率呈現(xiàn)。

詳細摘要： 產(chǎn)品簡介：奧林巴斯激光共焦顯微鏡采用了高級光學系統(tǒng)，可通過非破壞觀察法生成高畫質的圖像并進行的3D測量。其準備操作也非常簡單且無需對樣本進行預先處理。

詳細摘要： 產(chǎn)品簡介：奧林巴斯偏光顯微鏡BX53-P型研究級專業(yè)偏光顯微鏡具有鮮明的偏光成像，是地質學家的理想之選。

詳細摘要： 產(chǎn)品簡介：USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀可以高速&高精細地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。

詳細摘要： 產(chǎn)品簡介：MC1000離子濺射儀是由日立公司自行設計制造，針對掃描電鏡的精細需求而設計，適合微觀結構較復雜的樣品，尤其適合于場發(fā)射掃描電鏡的高倍率觀測應用。

詳細摘要： 產(chǎn)品簡介：日立IM4000Plus離子研磨儀利用氬離子對樣品即可以進行平面研磨，也可以進行截面切割，是對樣品進行無應力加工的理想工具。

詳細摘要： 產(chǎn)品簡介：IXRF磁控離子濺射儀MSP-2S/MSP-Mini利用磁控電極在低電壓下對樣品濺射金屬靶材，為SEM樣品表面噴鍍金屬鍍層，方便電鏡觀察。

詳細摘要： 產(chǎn)品簡介：ArBlade5000離子研磨儀保留了IM4000系列的平面和截面研磨功能，同時對加工速率有了很大提升。

詳細摘要： 產(chǎn)品簡介：Asteria系列光度計適合于亮度、照度和Flicker閃爍測量。

詳細摘要： 產(chǎn)品簡介：LEXT OLS4500是一款集成了激光顯微鏡和探針掃描顯微鏡功能于一體的新型納米檢測顯微鏡，可以實現(xiàn)從50倍到100萬倍的超大范圍的觀察和測量。

詳細摘要： 產(chǎn)品簡介：奧林巴斯BX3M系列正置金相顯微鏡采用了模塊化設計，為廣泛的材料學和工業(yè)應用提供了多樣化的解決方案。

詳細摘要： 產(chǎn)品簡介：奧林巴斯GX53倒置顯微鏡廣泛應用于鋼鐵、汽車、電子及其他制造行業(yè)。用戶只需將樣品倒扣放置在載物臺上即可檢測拋光金屬和切片樣品。