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綜合型分析探針臺(tái) 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品簡介:可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試。
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2025-10-28 參考價(jià): 面議 在線留言 -
晶圓測(cè)試探針臺(tái) 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品簡介:可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試。
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2025-10-28 參考價(jià): 面議 在線留言 -
小型分析探針臺(tái) 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品簡介:可用于6英寸以內(nèi)樣品測(cè)試。
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2025-10-28 參考價(jià): 面議 在線留言 -
面板TEG prober 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品簡介:0.1um精度的直線電機(jī)平臺(tái),全自動(dòng)測(cè)試,超高的測(cè)試精度。
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2025-10-28 參考價(jià): 面議 在線留言
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