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更新時間:2026-02-11 15:54:48瀏覽次數(shù):95次
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接觸式高低溫氣流溫度沖擊系統(tǒng)氣流儀設(shè)備
| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 產(chǎn)品大小 | 其他 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)品新舊 | 全新 | 結(jié)構(gòu)類型 | 其他 |
ThermoTST ATC840通過測試頭與DUT之間直接接觸,將DUT的溫度(殼溫或者結(jié)溫)調(diào)整到目標溫度點進行相應(yīng)的性能測試。同時適用于已焊接的芯片和使用socket的芯片,可以真正做到只控制待測芯片溫度而不影響外圍電路,排除外圍電路引起的不確定性。
集成電路IC芯片溫度沖擊測試機 熱流儀
特點
有效溫度范圍,-55℃至+200℃
溫度穩(wěn)定性±0.5℃
觸摸屏操作,人機交互界面
支持DUT溫度控制
桌面設(shè)計,低噪音、低震動、低環(huán)境散熱
溫度波動小
低溫環(huán)境測試無冷凝
集成電路IC芯片溫度沖擊測試機 熱流儀
適用于IC特性、測試和失效分析:
ATE, SLT和工作臺
高低溫測試箱/低溫冷卻機代換
OEM集成
氣流儀接觸式高低溫沖擊機三溫測試臺熱流儀
測試標準
滿足美用標準MIL體系測試標準
滿足國內(nèi)元件GJB體系測試標準
滿足JEDEC測試要求
技術(shù)規(guī)格
| 有效溫度范圍 | -55 oC 至 + 200 oC |
| 典型溫度轉(zhuǎn)換率 | 25oC 至 -40 oC ; ≤2Min |
| 溫控精度 | ± 1 oC |
| 冷卻功率 | 355W @ 0℃;80W@ -30°C |
更多詳細參數(shù),請聯(lián)系我們!
ThermoTST ATC840通過測試頭與DUT之間直接接觸,將DUT的溫度(殼溫或者結(jié)溫)調(diào)整到目標溫度點進行相應(yīng)的性能測試。同時適用于已焊接的芯片和使用socket的芯片,可以真正做到只控制待測芯片溫度而不影響外圍電路,排除外圍電路引起的不確定性。
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