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產(chǎn)品簡介
FEI Scios是一款高分辨率DualBeam分析系統(tǒng)，能為包括磁性材料在內(nèi)的眾多樣本提供二維和三維性能。FEI Scios 的功能可提高通量、精度與易用性，非常適于學(xué)院、政府和工業(yè)研究環(huán)境中的納米量級(jí)研究與分析。
FEI Scios核心技術(shù)。透鏡內(nèi)FEI Trinity能夠同時(shí)收集所有信號(hào)，既節(jié)省了時(shí)間還能形成鮮明的對(duì)比度，從而有助于采集盡可能多的數(shù)據(jù)。透鏡下同心后散射檢測(cè)器能提高效率，使您可以根據(jù)信號(hào)的角分布選擇信號(hào)，從而輕松分離材料和形態(tài)對(duì)比度，即使著陸能量為 20 eV 也是如此。
生命科學(xué)應(yīng)用
有效的生物成像需要使用能夠支持眾多不同應(yīng)用且不會(huì)降低對(duì)比度和分辨率的多功能設(shè)備。FEI Scios是一款易于使用的儀器，能使您的眾多不同應(yīng)用和工作流更具靈活性，功能更*，而且借助高效和增值工作流， Scios能讓您在短時(shí)間內(nèi)獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。留言咨詢
移動(dòng)站：雙束掃描電鏡Scios 2
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