日立高新熱場式場發(fā)射掃描電鏡SU5000

--搭載全新用戶界面，向所有用戶提供高畫質圖像--

       日立公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發(fā)售的肖特基式場發(fā)射
掃描電子顯微鏡"SU5000"，搭載了全新的用戶界面和"EM Wizard"，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。

       掃描電子顯微鏡在納米技術領域、材料領域、醫(yī)學生物等領域均被廣泛使用。但隨著近年來儀器性能的大幅提升，以及用戶群體的不斷擴大，使得用戶對不需要任何經驗和技術就能得到好照片的需求迅速擴增。而且，由于觀察對象的樣品的不斷多樣化，對樣品的大小和性質的無制約觀察變得尤為重要。

       這次新開發(fā)的"SU5000"對用戶沒有任何操作技巧上的要求，通過”EM Wizard“只要選擇好觀察目的就可以得到好照片。"EM Wizard"以人為本的設計理念使電鏡的操作性大幅上升，對于用戶來說，再也不用去討論該用什么條件進行觀察，只要按照觀察目的選擇”表面細節(jié)觀察“或是”成分分布“等就可以自動將適合的觀察條件設置好。除此之外，使用經驗豐富的操作人員也可以像往常一樣自由的選擇觀察條件，按照自己的操作習慣進行設置?！盓M Wizard“對于初學者或者使用經驗尚淺的客戶來說，它的操作簡易性和各種學習工具可以幫助您迅速成長起來；對使用經驗豐富的客戶來說，開放了豐富的可設置選項，會令您操作起來更加得心應手。這正是"EM Wizard"的價值所在。

       另外"SU5000"的尋找視野功能"3D MultiFinder"更是無二的。不但可大幅提高做樣速度，更使視野再現(xiàn)性得到大大提高。并且，為了能適應各種分析的需求，束流可達到200nA。再加上全新設計的背散射電子探頭和低真空二次電子探頭等，都使該款電鏡無論在是觀察樣品還是分析都具備了的功能與*的擴展性。

       日立高新在8月3日至8月7日在美國康涅狄格州舉辦的"Microscopy & Microanalysis"，9月3日至9月5日在日本千葉縣幕張國際展覽中心舉辦的"JASIS 2014"，9月7日至9月12日在捷克舉行的"18th International Microscopy Congress"上都做了實機展出。

*：肖特基式場發(fā)射電子顯微鏡：高亮度、大束流、穩(wěn)定性匯聚一身肖特基式場發(fā)射電子顯微鏡。分辨率高和可做各種定量定性分析。

肖特基式場發(fā)射電子顯微鏡"SU5000"                            "EM Wizard"畫面樣式

【主要參數(shù)】

 *1：減速模式是選配項     *2：低真空模式是選配項

    2014年，日立公司（以下簡稱：日立高新） 新型肖特基場發(fā)射掃描電鏡*"SU5000"作為工業(yè)用設備榮獲由公益財團法人日本設計振興會頒發(fā)的GOOD DESIGN AWARD 2014”(2014年度設計獎)。