原子吸收光譜法是一種廣泛用于測定痕量到主量范圍的元素的技術(shù)。 其特殊的挑戰(zhàn)是痕量分析，特別是分析復(fù)雜基體樣品中的有毒有害元素。 為了滿足這一要求，德國耶拿提供了可靠的ZEEnit系列原子吸收光譜儀，并采用了成熟的塞曼技術(shù)。這里使用的塞曼背景校正是*的原子吸收背景校正技術(shù)之一，能夠保證可靠的結(jié)果。ZEEnit 650 P和ZEEnit 700系列都是配備了橫向加熱高性能石墨爐的緊湊型光譜儀，塞曼背景校正系統(tǒng)的塞曼磁場可設(shè)置2磁場 /3磁場和動(dòng)態(tài)磁場，磁場強(qiáng)度可調(diào)，從而獲得最大的靈敏度和擴(kuò)展的工作曲線范圍。 此外，該系統(tǒng)還額外配備了*的氘空心陰極燈背景校正系統(tǒng)。

ZEEnit 700系列的全自動(dòng)火焰模式，覆蓋了極寬的濃度范圍。 操作系統(tǒng)簡單友好，許多過程皆為自動(dòng)化設(shè)計(jì)。 我們通過許多功能*的組件實(shí)現(xiàn)這種高度自動(dòng)化，如8燈位的自動(dòng)切換燈架，用于使用編碼燈和超燈的RFID工具，具有智能化自動(dòng)稀釋功能的自動(dòng)進(jìn)樣器，以及緊湊設(shè)計(jì)的爐體等等。預(yù)置的典型應(yīng)用程序以及軟件中的快速啟動(dòng)功能，使常規(guī)應(yīng)用程序的快速啟動(dòng)成為可能。 du特的AAS直接固體分析技術(shù)和ZEEnit石墨爐技術(shù)相結(jié)合，樣品無需消解即可測試，大程度地減少了樣品制備的工作量。