模擬溫濕度環(huán)境老化箱用于各類(lèi)電子電器、筆記本電腦、塑膠塑料、LED光源、航空航天、半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)、光電通訊、汽車(chē)零件業(yè)、電線(xiàn)電纜、金屬五金、化工涂料、塑膠塑料、橡膠原料、建材、電鍍、電路板芯片等行業(yè)品質(zhì)檢測(cè)及研發(fā)新項(xiàng)目之用。

 模擬溫濕度環(huán)境老化箱

一、產(chǎn)品用途：

   恒溫恒濕試驗(yàn)箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類(lèi)電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備；特別適用于LED、光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。

 

二、恒溫恒濕試驗(yàn)箱滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.1-2008 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；         GB/T10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB/T2423.2-2008 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法           GB/T11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T2423.3-2006 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)方法；    GB/T10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T2423.4-2008 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法；     GB/T10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T2423.22-2002試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法；      GJB150.3 高溫試驗(yàn)；
IEC60068-2-1：2007 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法；        GJB150.4 低溫試驗(yàn)；
IEC60068-2-2：2007 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法；        GJB150.9 濕熱試驗(yàn)；
IEC68-2-1 試驗(yàn)A：寒冷；                        IEC68-2-2 試驗(yàn)B：干熱；

三、規(guī)格及型號(hào)（單位:mm）：（W×H×D）
 型號(hào):HL-TH-80    內(nèi)形尺寸：400×500×400        外箱尺寸：970×1360×970

 型號(hào):HL-TH-150  內(nèi)形尺寸：500×600×500        外箱尺寸：1070×1460×1070

 型號(hào):HL-TH-225  內(nèi)形尺寸：500×750×600        外箱尺寸：1070×1610×1170

 型號(hào):HL-TH-408  內(nèi)形尺寸：600×850×800        外箱尺寸：1170×1710×1280

 型號(hào):HL-TH-800  內(nèi)形尺寸：1000×1000×800    外箱尺寸：1550×1850×1300

 型號(hào):HL-TH-1000 內(nèi)形尺寸：1000×1000×1000 外箱尺寸：1550×1850×1500

 容積：80L      150L      225L       408L      800L     1000L