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產品簡介
| X射線熒光法是高效的材料分析工具。它廣泛應用于鍍層厚度測量,同時也適于進行元素分析。 可以對幾乎任意尺寸和狀態(tài)的工件進行分析。粉末和糊狀材料可以和固體或液體一樣進行分析。 | FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® 和XDAL系列是能量分散的高性能X射線熒光光譜儀,它可以對未知材料進行簡單,快速而**的分析。分析范圍從鋁(Al)到鈾(U),即使含量很小也可以測量。 這些的儀器之所以具有如此*的性能,是因為它使用了帶珀耳帖冷卻的高光譜分辨率的半導體探測器和用于材料和多鍍層分析的WinFTM® V6軟件。 如果與應用工具箱Gold Assay組合在一起,這些儀器系列也是FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分--珠寶和貴金屬領域快速、無損和**測量金含量的理想設備。 詳細內容參見下面表格。 |
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