QNix4200/4500測厚儀操作說明書QNix4200/4500測厚儀操作說明書一、簡介德國尼克斯QNIX涂層測厚儀可無損測量磁體金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（銅、鋁、鋅、錫等）上的非導(dǎo)電覆層的厚度(如琺瑯，橡膠，油漆，塑料等)

QNix 4200/4500測厚儀操作說明書

QNix 4200/4500測厚儀操作說明書

一、 簡介
德國尼克斯 QNIX 涂層測厚儀可無損測量磁體金屬基體（如鋼、 鐵、 合金和硬磁性鋼等） 上非磁性涂層的厚度（如鋁、 鉻、 銅、 琺瑯、 橡膠、 油漆等） 及非磁性金屬基體（銅、 鋁、 鋅、 錫等） 上的非導(dǎo)電覆層的厚度(如琺瑯， 橡膠， 油漆，塑料等)。 是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測儀器， 廣泛地用于在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、 化工業(yè)、 商檢等檢測領(lǐng)域。
注： 磁性金屬元素有鐵、 鈷、 鎳、 及鑭系元素。

德國尼克斯 QNIX 涂層測厚儀特點(diǎn)：
零位穩(wěn)定： 所有涂層測厚儀測量前都要求校準(zhǔn)零位， 可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。 儀器零位的穩(wěn)定是保證測量前提。 一臺好的測厚儀校零后， 可以長時(shí)間保持零位不漂移， 確保準(zhǔn)確測量。
無需校準(zhǔn):多數(shù)涂層測厚儀除了校零外， 還需要用標(biāo)準(zhǔn)片一進(jìn)行調(diào)校。 測量某一范圍厚度， 要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。 主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。 不僅操作煩瑣， 而且也會因標(biāo)準(zhǔn)片表而粗糙失效， 增大系統(tǒng)誤差。 尼克斯涂層測厚儀可以滿足全量程范圍內(nèi)數(shù)值準(zhǔn)確
溫度補(bǔ)償： 涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。 同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。 所以好的測厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)， 以保證不同溫度下的測量精度。
紅寶.石探頭： 探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測量的精度。 普通金屬接觸探頭， 其表而磨損后會帶來很大的誤差。
*的直流采樣技術(shù)：使得測量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的*和提高。
單探頭量程大： 0 一 5mm
QNix 4200（ 含 QNix 4200、 QNix 4200/5、 QNix 4200P、 QNix 4200P5） 可測量磁性金屬表而非磁性涂鍍層厚度。 (Fe)
QNix 4200（ 含 QNix 4500、 QNix 4500/5、 QNix 4500P、 QNix 4500P5） 可測量磁性金屬表而非磁性涂鍍層厚度及非磁性金屬表面非導(dǎo)電涂層厚度。 (雙用)標(biāo)準(zhǔn):符合 ISO 2178,2630,2808 及 ASTM B 499， D7091 標(biāo)準(zhǔn)

二.技術(shù)參數(shù)

型號	一體/分體	量程	基體
QNix 4200	一體	Fe:0－3000μm	Fe
QNix 4200P	分體	Fe:0－3000μm	Fe
QNix 4200/5	一體	Fe:0－5000μm	Fe
QNix 4200P5	分體	Fe:0－5000μm	Fe
QNix 4500	一體	Fe/NFe:0－3000μm	Fe/NFe 兩用
QNix 4500P	分體	Fe/NFe:0－3000μm	Fe/NFe 兩用
QNix 4500/5	一體	Fe:0－5000μm	Fe/NFe 兩用
NFe:0－3000μ
QNix 4500P5	分體	Fe:0－5000μm	Fe/NFe 兩用
NFe:0－3000μ
測量范圍	Fe:0－3000 或 0－ 5000μm	Fe:0－3000 或 0－5000μm NFe:0－3000μm
顯示精度	0-99.9m:0.1μm 100-999μm： 1μm ≥1mm： 0.01μm

精度	±（2+3％） μm≤2000μm ±（2+3％） μm＞2000μm
小測量面積	Fe:10× 10mm²， NFe： 6× 6mm²
小曲率半徑	凸半徑： 5mm， 凹半徑： 25mm
小基體	FE:0.2mm， NFe:0.05mm
測量溫度范圍	-10℃-60℃
溫度補(bǔ)償范圍	0℃-5℃
分體型連接線長 度	1m
電源	2× 1.5V AA 堿性電池
尺寸	100× 60× 27mm
重量（含電池）	一體型： 105g， 分體型： 147g

測量
將儀器探頭垂直接觸被測物體的表面， 儀器將自動測量出并顯示數(shù)據(jù)。 （建議用拇指和食指拿住儀器凹槽處使用， 分體型用拇指和食指拿住探頭凹槽處使用）
注意:測量時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測物表而、 并壓實(shí)， 每測量一次后將儀器拿起， 離開被測物體 10cm 以上， 再進(jìn)行下一點(diǎn)測量。