詳細介紹
靈活的探測,4步工作流程,高級的分析性能
將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間:設(shè)置成像與分析步驟,提高效率。
Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器,可快速方便地實現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時間,任何樣品均可獲得精準可重復(fù)的分析結(jié)果。
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