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雙面檢測同軸顯微鏡 詳細摘要： HCM系列同軸顯微鏡是為半導體后端檢測晶圓刻字偏移、易拉罐開啟口壓痕殘余厚度、通孔垂直偏差、新能源電池防爆片刻痕、MEMS結構重合偏差檢查等專門研發(fā)的?款?具設...
產(chǎn)品型號： 所在地： 更新時間：2025-04-30 參考價： 面議 在線留言
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蘇州工業(yè)園區(qū)匯光科技有限公司
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詳細摘要： HCM系列同軸顯微鏡是為半導體后端檢測晶圓刻字偏移、易拉罐開啟口壓痕殘余厚度、通孔垂直偏差、新能源電池防爆片刻痕、MEMS結構重合偏差檢查等專門研發(fā)的?款?具設...
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