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詳細(xì)介紹
xMark™ 微孔板吸光度分光光度計(jì)
使用 Microplate Manager®軟件，xMark 分光光度計(jì)可以執(zhí)行范圍廣泛的終點(diǎn)和動(dòng)力學(xué)應(yīng)用，在從低紫外到紅外的波長內(nèi)進(jìn)行光譜掃描。全面數(shù)據(jù)分析包括綜合曲線擬合模型和采用單板或批次格式的自動(dòng)數(shù)據(jù)導(dǎo)出。優(yōu)點(diǎn)包括:
· 在進(jìn)行光度測定閱讀時(shí)，基于單色儀的系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)佳光學(xué)效率和大靈活性
· 提供可定義檢測的佳吸收波長的光譜掃描
· 單孔或整板中像素強(qiáng)度數(shù)據(jù)的成像功能
· 能夠掃描定制的板
· PC 或 Mac 軟件的靈活控制和數(shù)據(jù)分析
· 具有可編程溫度控制的培養(yǎng)器
xMark™ 微孔板吸光度分光光度計(jì)
技術(shù)指示
| 光學(xué)的 | |
| 波長范圍 | 200–1,000 納米 |
| 光度計(jì)方法 | 單波長和雙波長 |
| 單色儀步長 | 1 nm |
| 帶寬 | 5 nm |
| 波長精度，低 | ±2.0 nm |
| 波長可重復(fù)性 | ±0.2 nm |
| 成像分辨率 | 0.5、0.75、1.0 mm |
| 性能 | |
| 指示范圍 | 0–4.0 OD |
| 分辨率 | 0.001 OD |
| 線性 | ≤2.0%，0–3.0 OD（405 nm 處） |
| 準(zhǔn)確度 | ±1.0% 或 0.015，0–3.0 OD |
| 可重復(fù)性 | 96 孔板；≤1.0% 或 0.005，在 405 nm 時(shí)為 0–3.0 OD |
| 穩(wěn)定性和漂移 | ≤0.010，OD = 1 時(shí)，490 nm 處 |
| 讀取時(shí)間 | 8 秒/96 孔/單波長；15 秒/384 孔/單波長；35 秒/1,536 孔/單波長 |
| 物理的 | |
| 兼容的反應(yīng)板 | 6 到 1,536 孔微孔板和定制微孔板 |
| 大板高度 | 21 mm |
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