半導體芯片觀察顯微鏡

    UMT250系列金相檢測顯微鏡

    工業(yè)檢測顯微鏡適用于對工件表面的組織結(jié)構(gòu)與幾何形態(tài)進行顯微觀察。采用優(yōu)良的無限遠光學系統(tǒng)與模塊化功能設計理念，可以方便升級系統(tǒng)，實現(xiàn)偏光觀察、暗場觀察等功能，導柱升降裝置，可以快速調(diào)整工作臺與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測。機械移動式載物平臺可有效定位工件觀察部位。調(diào)焦機構(gòu)采用圓柱滾子導向傳動，機構(gòu)升降平穩(wěn)。產(chǎn)品適用于精密零件，集成電路，包裝材料等產(chǎn)品檢測。

    半導體芯片觀察顯微鏡標準配置

      
    半導體芯片觀察顯微鏡選配件