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產(chǎn)品簡介

ROHS/ELV/WEEE有害元素熒光X射線檢查裝置在保留XGT-1000WRX射線熒光光譜儀優(yōu)點的基礎上，Horiba又推出用于微區(qū)分析的X熒光分析儀。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技術，可將X射線聚集成10m射線束。不但可以對樣品的表面進行形貌掃描，也可對樣品的內(nèi)部結構透視掃描，甚至還可以實現(xiàn)元素掃描.

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產(chǎn)品介紹

ROHS/ELV/WEEE有害元素熒光X射線檢查裝置

在保留XGT-1000WRX射線熒光光譜儀優(yōu)點的基礎上，Horiba又推出用于微區(qū)分析的X熒光分析儀。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技術，可將X射線聚集成10µm射線束。不但可以對樣品的表面進行形貌掃描，也可對樣品的內(nèi)部結構透視掃描，甚至還可以實現(xiàn)元素掃描.

概要

應用

PCB基板的掃描為例

電子組件內(nèi)部的異物、故障解析為例

特征

	XGT-5700WR系列
X線照射徑	Ø3mm標準 Ø100μm或Ø10μm
一次X線濾膜	Ø3mm照射徑:4種自動切換 Ø10μm照射徑:無濾膜 Ø100μm照射徑:無濾膜
二次X線濾膜	用于金屬中有害元素高靈敏度測定的標準裝備（ON/OFF自動切換）
X線檢測器	液體氮氣冷卻3L
X線檢測器	高純度Si檢測器
樣品形狀	不超過350×400×40mm
樣品載臺	掃描范圍：100×100mm? 200×200mm（可選）

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ROHS/ELV/WEEE有害元素熒光X射線檢查裝置

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