天津良益科技股份有限公司
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詳細(xì)摘要： 儀器簡(jiǎn)介：本實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)便于學(xué)生從實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象中更形象地認(rèn)識(shí)信息光學(xué)中廣泛使用的空間光調(diào)制器，即液晶光閥的工作原理，加深對(duì)全息尤其是計(jì)算全息基本概念和基本性質(zhì)的理解，為...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：天津市更新時(shí)間：2024-08-14 在線留言
詳細(xì)摘要： 儀器簡(jiǎn)介：電子散斑干涉(ESPI)技術(shù)是一種非接觸式全場(chǎng)實(shí)時(shí)測(cè)量技術(shù),因其通用性強(qiáng)、測(cè)量精度高、頻率范圍寬及測(cè)量簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)，電子散斑干涉無損檢測(cè)技術(shù)可以完成位移...
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詳細(xì)摘要： 儀器簡(jiǎn)介：光的干涉和衍射是重要的光學(xué)現(xiàn)象之一，本裝置將干涉實(shí)驗(yàn)和衍射實(shí)驗(yàn)集成為一個(gè)實(shí)驗(yàn)裝置，既可以進(jìn)行光的干涉實(shí)驗(yàn)比如雙棱鏡干涉，楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)等；又可以進(jìn)行...
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詳細(xì)摘要： 儀器簡(jiǎn)介：本實(shí)驗(yàn)是我公司專門為高校物理光學(xué)實(shí)驗(yàn)室提供的綜合類實(shí)驗(yàn)設(shè)備，內(nèi)容涵蓋應(yīng)用光學(xué)、信息光學(xué)、物理光學(xué)、全息學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域
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詳細(xì)摘要： 儀器簡(jiǎn)介：該實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，由單光子計(jì)數(shù)器，半導(dǎo)體制冷系統(tǒng)，外光路光學(xué)系統(tǒng)，光功率指示儀，工作軟件等組成
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詳細(xì)摘要： 儀器簡(jiǎn)介：此儀器用于高等學(xué)校普通物理實(shí)驗(yàn)，通過用減速場(chǎng)法，測(cè)量不同波長(zhǎng)單色光的照射下，光陰極材料的截止電壓，驗(yàn)證愛因斯坦方程，進(jìn)而測(cè)量普朗克常量的實(shí)驗(yàn)過程，幫助...
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詳細(xì)摘要： 儀器簡(jiǎn)介：此儀器是利用光電效應(yīng)的原理來計(jì)算普朗克量數(shù)，首先要得到不同光照頻率的遏制電壓，做出遏制電壓與光照頻率的關(guān)系曲線--一條直線，由于遏制電壓滿足Ube=h...
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詳細(xì)摘要： 儀器簡(jiǎn)介：計(jì)算機(jī)三維測(cè)量及成像技術(shù)是信息技術(shù)當(dāng)中的重要應(yīng)用部分
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詳細(xì)摘要： 儀器簡(jiǎn)介：在光學(xué)信息傳遞過程當(dāng)中，信息的傳遞過程及傳遞質(zhì)量是研究光學(xué)系統(tǒng)的主要手段
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詳細(xì)摘要： 儀器簡(jiǎn)介：傅里葉變換相關(guān)圖像識(shí)別技術(shù)在指紋識(shí)別、字符識(shí)別、目標(biāo)識(shí)別等領(lǐng)域已逐步進(jìn)入實(shí)用化階段
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詳細(xì)摘要： 儀器簡(jiǎn)介：為了測(cè)量傳遞函數(shù),因連續(xù)可變的條紋間隙所產(chǎn)生的干涉圖可用作可撓光的圖靶
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詳細(xì)摘要： 儀器簡(jiǎn)介：此設(shè)備采用液晶觸摸顯示屏式結(jié)構(gòu)，操作便捷，可直觀操作和讀數(shù)，直觀便捷，夫蘭克--赫茲實(shí)驗(yàn)為研究原子內(nèi)部的能量時(shí)態(tài)問題，用低速電子去轟擊原子，從而觀察他...
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