曉INSIGHT 鍍層分析儀是一款上照式鍍層分析儀，具有高靈敏度、非破壞性、操作簡單、測試精度高、外觀緊湊、節(jié)約空間等特點，不僅可用于對不均勻、不規(guī)則，甚至微小件等形態(tài)的樣品進行元素分析，還能用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量，實現(xiàn)快速測量和精準分析，廣泛應用于各類產(chǎn)品的質量管控、來料檢驗和生產(chǎn)工藝控制環(huán)節(jié)，以幫客戶降低物料成本，滿足對應的工業(yè)標準。

使用優(yōu)勢

可編程自動位移

選配自動平臺，輕松實現(xiàn)自動測量，可以更快的準備和測量樣品，從而提高分析量。

上照式設計

儀器采用上照式設計，可輕松實現(xiàn)對超大型、不規(guī)則、微小件、甚至液體形態(tài)樣品的快、準、穩(wěn)高效測量。

超大測量室

儀器殼體的開槽設計（C型槽）使得測量空間寬大，樣品放置便捷，可以測量如印刷線路板類大而平整的物品，也可以放置形狀復雜的大樣品。

自動對焦

高低大小樣品可快速清晰對焦，視頻圖像可放大、含十字線、自動聚焦。

高品質進口探測器

儀器選用適合于多元素鍍層的分析進口探測器，噪音小，可靈活地應對鍍層結構。