交變高低溫試驗房可提供高溫、惡劣的環(huán)境供各類成品或半成品測試，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要試驗設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要測試設(shè)備，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、電池等領(lǐng)域。

交變高低溫試驗房技術(shù)參數(shù)：

1、內(nèi)容積:6M3、8M3、10M3、12M3、15M3、18M3、20M3、30M3、50M3、(除了這些容積，更大或者更小的均可來電定制）

2、內(nèi)室尺寸與外型尺寸：以客戶的測試件所需尺寸或場地等需求定制*合理的內(nèi)外尺寸，建議雙方電談或者面談了解清楚實際需求再確定具體所需尺寸，能有效節(jié)約成本及滿足實際需要。

3、溫度范圍：RT～85 ℃或更高請致電說明。

4、（單/雙)開門選擇，如雙：W（800+800）mm×H1900mmW；（ 可依客戶要求選擇或定制）

5、滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 5170.2-2008 溫度試驗設(shè)備、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗方法Bb、GJB150.3-1986   高溫試驗、GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法、GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗。

6、工作噪音：A聲級≤70dB(A) (在環(huán)溫25℃，回聲少的隔音室內(nèi)測得；采用A計權(quán)，測試8個點的平均值；各測試點水平離噪音源1米、高度離地面1米)

7、溫度波動：溫度：≤±0.5℃  （指控制器設(shè)定值和控制器實測值之差）

8、溫度均勻度：溫度：≤2.0℃（均勻度為每次空載測試中實測*高溫度和*低溫度之差的算術(shù)平均值）

9、溫度升溫時間：約40min

10、電源：AC380V，三相四線＋保護(hù)地線。

符合標(biāo)準(zhǔn):

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法

GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗

GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)

性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求。