輕敲式原子力顯微鏡-NanoFirst-3000特點(diǎn)：　　原子力顯微鏡（Atomicforcemicroscopy）是一種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器

輕敲式原子力顯微鏡-NanoFirst-3000特點(diǎn)：  
　　原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是一種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對(duì)樣品掃描，探針固定在對(duì)探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會(huì)引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移。檢測(cè)器接受反射光，最后接受信號(hào)經(jīng)過計(jì)算機(jī)系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。  

計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制，操作簡(jiǎn)捷直觀。  
步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖--樣品逼近，保證實(shí)驗(yàn)圓滿成功。  
深度陡度測(cè)量，三維顯示。  
納米材料粗糙度測(cè)量、顆粒徑度測(cè)量及分布統(tǒng)計(jì)。  
Ｘ、Ｙ二維樣品移動(dòng)平臺(tái)，快速搜索樣品區(qū)域．  
標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無需任何計(jì)算機(jī)卡  
樣品觀測(cè)范圍從0.001um-20000um。  
掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒  
可選配納米刻蝕功能模塊。  
　  
輕敲式原子力顯微鏡-NanoFirst-3000技術(shù)指標(biāo):  
AFM探頭  
樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。  
XY掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米  
XY向分辨率：0.4nm(輕敲模式)；0.25nm（AFM模式）  
Ｚ向分辨率：0.05nm(輕敲式,DNA定標(biāo))；0.03nm（AFM云母定標(biāo)）  
XY二維樣品移動(dòng)范圍：５mm；精度0.5微米  
步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近  
44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)  
AFM電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）  
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺(tái)（選購   
  
輕敲式原子力顯微鏡-NanoFirst-3000電子學(xué)控制器:   

XYZ控制	18-Bit D/A
數(shù)據(jù)采樣	14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣
Z向反饋	DSP數(shù)字反饋
反饋采樣速率
高壓放大器	集成高壓運(yùn)算放大器，電壓范圍+/-150V
頻率范圍	20K-1000KHz
幅度范圍	0-10.0V
掃描速率	>40000點(diǎn)/秒
掃描角度	0-360度
掃描偏移	任意
圖像采樣點(diǎn)	256X256或512X512
步進(jìn)馬達(dá)控制	手動(dòng)和自動(dòng)進(jìn)退
計(jì)算機(jī)接口	標(biāo)準(zhǔn)RS232串行/USB