電子分析天平-AB135-S產(chǎn)品參數(shù)量程：31/120g精度：0.01/0.1mg稱盤尺寸：Φ80線性：±0.2mg*重復性：0.03/0.1mg外型尺寸：245×321×344mm電子分析天平-AB135-S產(chǎn)品用途本產(chǎn)品適用于各種研究所和實驗室電子分析天平-AB135-S主要特點1.采用高分辨率的稱量單元

電子分析天平-AB135-S產(chǎn)品參數(shù) 
量 程： 31/120g 
精 度： 0.01/0.1mg 
稱盤尺寸： Φ80 
線 性： ±0.2mg* 
重 復 性： 0.03/0.1mg 
外型尺寸： 245×321×344mm 

電子分析天平-AB135-S產(chǎn)品用途 
本產(chǎn)品適用于各種研究所和實驗室 

電子分析天平-AB135-S主要特點 
1.采用高分辨率的稱量單元，滿足用戶高精度的稱量需求 
2.稱量單元保護裝置（CellProtector），提高產(chǎn)品的抗沖擊、過載性能 
3.堅固的金屬機架，避免稱量樣品的污染，延長天平的使用壽命 
4.可讀性為0.1mg天平采用背亮式液晶顯示屏（Backlit LCD），方便用戶讀取稱量結(jié)果 
5.內(nèi)置砝碼校準，確保稱量結(jié)果的準確性 
6.雙量程（DualRange）設計，滿足客戶對不同樣品的稱量需求 
7.可以拆除的防風罩設計，實現(xiàn)天平的快速清潔 
8.內(nèi)置RS232通訊接口，方便連接打印機、電腦等外圍設備 
9.標配機架塑料保護罩（Protective cover），避免散落樣品的腐蝕 
10.具有簡單稱量、百分比稱量、計件稱量和動態(tài)稱量等內(nèi)置應用程序 

AB-L：外置砝碼校準（需選購）； 
AB-S：內(nèi)置砝碼校準； 
AB-IC：內(nèi)置砝碼校準； 
AB-S/FACT：采用溫度漂移及時間設置觸發(fā)的全自動校準技術(shù)（FACT）。 
（1）精細量程內(nèi)10 g樣品典型重復性：0.02mg ； （2）精細量程內(nèi)10 g樣品典型線性：0.03mg