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XGZ-5 全息實(shí)驗(yàn)-基本型全息照相是利用相干光疊加而發(fā)生干涉的原理，記錄參考光波與原物光波（從物體反射的光波）在記錄介質(zhì)上的干涉條紋。這種干涉條紋記錄了物光波...

XGZ-3 全息照相系列實(shí)驗(yàn)全息照相可以實(shí)現(xiàn)對(duì)物體的高密度存儲(chǔ)、加密及三維顯示。全息照相和常規(guī)照相不同，在底片上記錄的不是三維物體的平面圖像，而是光場本身。常規(guī)...

WGL-2 半導(dǎo)體泵浦激光原理實(shí)驗(yàn)裝置適用于大學(xué)近代物理教學(xué)中非線性光學(xué)實(shí)驗(yàn)，本實(shí)驗(yàn)以808nm半導(dǎo)體泵浦Nd：YVO4激光器為研究對(duì)象，讓學(xué)生自己動(dòng)手，調(diào)整激...

WGL-4 氦氖激光器系列實(shí)驗(yàn)儀器介紹通過氦氖激光器的裝調(diào)，改變諧振腔的長度，觀察激光模式的變化，來培養(yǎng)學(xué)生實(shí)驗(yàn)的動(dòng)手能力。使用共焦球面掃描干涉儀，讓學(xué)生較直觀...

WGL-5 半導(dǎo)體激光器實(shí)驗(yàn)系列儀器介紹通過測量半導(dǎo)體激光器的功率，電壓和電流，讓學(xué)生了解半導(dǎo)體激光器在連續(xù)輸出下的工作特性。用WGD-6光學(xué)多道分析器觀測，半...

WGL-6 氦氖激光器模式分析實(shí)驗(yàn)裝置在激光器的生產(chǎn)與應(yīng)用中，我們通常需要先知道激光器的模式狀況，如精密測量、全息技術(shù)等工作需要基橫模輸出的激光器，而激光器穩(wěn)頻...

WGL-3 脈沖調(diào)Q Nd：YAG倍頻激光器實(shí)驗(yàn)裝置該實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)讓學(xué)生通過自己動(dòng)手裝調(diào)激光器，掌握激光器的基本結(jié)構(gòu)、主要參數(shù)、輸出特性、調(diào)整方法、以及調(diào)Q、選模、...

WGL-8晶體電光調(diào)制實(shí)驗(yàn)儀由電場所引起的晶體折射率的變化，稱為電光效應(yīng)．通過利用典型的LiNbO3晶體橫向電光效應(yīng)原理的激光振幅調(diào)制器的使用，掌握晶體電光調(diào)制...

SGD-2 單光子計(jì)數(shù)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)該實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，由單光子計(jì)數(shù)器，半導(dǎo)體制冷系統(tǒng)，外光路光學(xué)系統(tǒng)，光功率指示儀，工作軟件等組成。系統(tǒng)采用了脈沖高度甄別計(jì)數(shù)和數(shù)字計(jì)數(shù)技術(shù)...

XGS-1 電子散斑干涉實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)電子散斑干涉（ESPI）實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)借助于粗糙表面信息的攜帶者——散斑來研究物體離面形變，是計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)、激光技術(shù)以及全息干涉...

XGS-2 激光散斑照相實(shí)驗(yàn)裝置利用二次曝光散斑圖進(jìn)行物體表面面內(nèi)位移場的測試，以及由此引伸出來的應(yīng)變，距離，速度測試，物體內(nèi)在缺陷和振動(dòng)分析是散斑效應(yīng)有前途的...

XGS-3 電子及激光散斑實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)本實(shí)驗(yàn)包括激光散斑照相和電子散斑干涉兩部分。利用二次曝光散斑圖進(jìn)行物體表面面內(nèi)位移場的測試，以及由此引伸出來的應(yīng)變、應(yīng)力場測試...

HNL-55700多束光纖激光源采用550mm功率激光管和進(jìn)口高傳輸性光纖，通過精密光學(xué)分束機(jī)構(gòu)分至七束光纖，每束光纖長度為4米，ZUI多為七臺(tái)邁氏干涉儀提供擴(kuò)...

SLJ-1雙棱鏡干涉實(shí)驗(yàn)儀導(dǎo)軌：鋁制導(dǎo)軌，長1000mm光源：半導(dǎo)體激光器，鈉燈或白光光源可選狹縫：0-2mm可調(diào)，帶二維調(diào)節(jié)測微目鏡：放大率15倍，測量范圍8...

WPZ-III塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀（智能型）1、永磁鐵磁感應(yīng)強(qiáng)度B＞1.0T，以實(shí)際測定為準(zhǔn)2、F-P標(biāo)準(zhǔn)具通光口徑φ40mm空氣隙石英間隙2 mm中心波長546.1...

WGZ-IIA光強(qiáng)分布測定儀單縫、單絲、雙縫、多縫等衍射、干涉圖形的一維光強(qiáng)分布測定；小孔、小屏、矩孔、雙孔、光柵和正交光柵等的衍射、干涉現(xiàn)象演示實(shí)驗(yàn)；偏振光實(shí)...

JCD3讀數(shù)顯微鏡產(chǎn)品簡介可作長度測量，也可作觀察使用?？芍盟胶痛怪蔽恢?，能搭成各種測試裝置。產(chǎn)品配置主要技術(shù)指標(biāo)要求：1、顯微鏡放大倍率為30倍，工作距離5...

WSM100/200邁克爾遜干涉儀產(chǎn)品簡介觀察光的干涉現(xiàn)象（等厚條紋、等傾條紋、白光彩色條紋），測定單色光波長，測定光源和濾光片相干長度、配法布里─珀羅系統(tǒng)觀察...

JJY-CCD分光示教儀CCD類型: 1/3 Sony 80H CCD Sensor總像素: PAL: 1020H×596V （80萬像） NTSC: 1020...

JJ1-D大口徑分光計(jì)利用反射、折射、衍射和干涉原理在各種實(shí)驗(yàn)中做角度測量。主要技術(shù)指標(biāo)要求：1、儀器的測角精度為1′；2、平行光管、望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)的焦距為170m...