瑞士Nanosurf公司，的專業(yè)研發(fā)掃描探針顯微鏡制造商和技術(shù)服務(wù)供應(yīng)商，在掃描探針顯微鏡領(lǐng)域有超過15年的研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，一直致力于新型掃描探針顯微鏡的創(chuàng)新性研發(fā)和制造。目前已推出新一代低噪音-快速掃描-超高穩(wěn)定性的AFM 和大掃描范圍Nanite AFM系統(tǒng)。瑞士Nanosurf公司承諾提供品質(zhì)的服務(wù)和客戶支持，同時(shí)還提供納米技術(shù)的OEM 客戶定制，外包等業(yè)務(wù)。

技術(shù)參數(shù)：

1，F(xiàn)LEXAFM原子力顯微鏡測量模式：接觸式原子力顯微鏡（大氣和液態(tài)環(huán)境），真正非接觸式原子力顯微鏡（大氣和液態(tài)環(huán)境），橫向力/摩擦力顯微鏡（LFM），導(dǎo)電原子力顯微鏡，磁力顯微鏡（MFM），開爾文探針（Kelvin Probe），掃描熱原子力顯微鏡（SThM），電容和靜電力顯微鏡（EFM），高級的納米光刻和納米操作能力，音叉原子力顯微鏡，三維掃描成像。

2，掃描范圍：100 um；10 um

3，Z方向范圍：10um；3 um

4，XY方向驅(qū)動分辨率：0.152 nm

5，Z方向驅(qū)動分辨率：0.046 nm

6，小Z方向測量噪音水平：0.15nm

7，樣品尺寸：直徑100mm

主要特點(diǎn)：

1，F(xiàn)lexAFM無論是在大氣環(huán)境下還是在液體環(huán)境下都可以進(jìn)行測試，操作和測試的方便程度是*一樣，沒有什么區(qū)別。

2，靈活彎曲結(jié)構(gòu)的掃描頭設(shè)計(jì)，可以引用于平的或粗糙的樣品表面。XY-掃描通過電磁驅(qū)動，XY平面的運(yùn)動是*線性的 。Z方向的運(yùn)動是通過壓電陶瓷來驅(qū)動，Z方向的運(yùn)動速度很快。

3，激光光束進(jìn)入液體時(shí)會發(fā)生一定偏移，通常實(shí)驗(yàn)時(shí)需要耐心和復(fù)雜的調(diào)整。而FlexAFM 使用了SureAlign™ 的激光光學(xué)系統(tǒng)，無論是在大氣下還是在液體中根本不需要做任何調(diào)整。所以FlexAFM 的激光信號永遠(yuǎn)處于狀態(tài)。

4，兩個(gè)方向的視窗，非常方便觀察和針尖逼近。并且由于特別的設(shè)計(jì)，使得無論在大氣環(huán)境還是液體環(huán)境得到同樣質(zhì)量的視像。

5，F(xiàn)lexAFM 使用"Liquid Ready" easyScan 2控制器, 可以擴(kuò)展STM 等技術(shù)。

為了材料研發(fā)上的成功,科學(xué)家們依賴專業(yè)的工具來快速地提供需要的信息,不管是否是手頭的任務(wù). 通過開發(fā)關(guān)鍵技術(shù)與設(shè)計(jì), Nanosurf使得Flex-Axiom成為一款迄今為止*多功能而且靈活的AFM, 非常方便地進(jìn)行各種各樣材料研發(fā)方面的應(yīng)用. 配合功能*的C3000控制器, Flex-Axiom還可以進(jìn)行更多復(fù)雜的材料表征應(yīng)用.

幾百個(gè)研究用戶，多方面應(yīng)用實(shí)例

Flex-Axiom是您可信賴的工具，不管是在表面形貌還是計(jì)量成像上，不管在大氣中還是液體環(huán)境中. 當(dāng)然Flex-Axiom不僅僅可以用于表面形貌測量, 比如還可以進(jìn)行高級納米機(jī)械性能、電學(xué)或者磁學(xué)性能表征. 該系統(tǒng)更能有效地用于樣品的微納米操縱功能.

Topography, KPFM, and MFM images of the same area of a stainless steel sample

精確而*的性能方便您研發(fā)上的需求

Flex-Axiom使用特殊的線性電磁平板掃描器用于XY移動. 該掃描器在全范圍內(nèi)的平均線性度誤差小于0.1%, 屬于AFM市場上的頂配. Z軸由壓電驅(qū)動, 帶有位置傳感器可以實(shí)現(xiàn)閉環(huán)操作. 高敏感的懸臂梁探測系統(tǒng)可以測量到MHz測量范圍. Flex-Axiom的測量頭配置的是全功能的, 帶有數(shù)字反饋與兩個(gè)雙通道鎖放的24位C3000控制器.

Imaging of single and multiple pyrene nanosheets and height analysis with sub-nanometer accuracy. Data courtesy: Mykhailo Vybornyi, University of Berne, Switzerland

模塊化設(shè)計(jì): 讓您今天的預(yù)算物有所值，讓您未來有更多機(jī)會增加配置或需求

Flex-Axiom帶有模塊化的樣品臺設(shè)計(jì)與各種探針底座類型, 可以滿足您當(dāng)前與今后的需求. 基于C3000控制器, Flex-Axiom可配置14種AFM操作功能, 甚至更多可擴(kuò)展功能, 可以進(jìn)行更多材料開發(fā)上面的高級測量與實(shí)驗(yàn)研究. ECS 204電化學(xué)樣品臺, 舉例來說, 可以進(jìn)行樣品的電化學(xué)與以及樣品周圍的環(huán)境控制, 這樣就可以開發(fā)更多新的應(yīng)用.

跟一些我們的高級研發(fā)用戶一起, 用于大范圍納米刻蝕、手套箱內(nèi)操作、磁阻感應(yīng)功能都已經(jīng)被開發(fā)出來.

Large-area nano-lithography (Dr. Lu Shin Wong, Manchester, UK)

Flex-Axiom in glove box (Dr. Philip Kim, Harvard University, US)

Magneto-resistive sensing (Dr. Jo?o Gaspar, Braga, PT)

Flex-Axiom的模塊化概念可以輕松地讓它升級到其他FlexAFM產(chǎn)品線 (如用于生命科學(xué)的Flex-Bio, 用于自動納米機(jī)械性能分析的Flex-ANA以及用于細(xì)胞與納米操縱的Flex-FPM)， 給您的Flex-Axiom系統(tǒng)提供了更多的升級與擴(kuò)展的可能性.

Flex-Bio

Flex-ANA

Flex-FPM

開發(fā)所有的實(shí)踐細(xì)節(jié)，有益于日常操作

FlexAFM視頻選件集成了兩個(gè)攝像頭用于頂視與側(cè)視, 可以讓您快速地找到感興趣區(qū)域并逼近針尖到樣品表面位置，然后進(jìn)行全自動逼近.

Camera optics

Top view

Side view

帶有定位槽結(jié)構(gòu)的探針底座可使用帶有定位溝槽的探針. 該探針底座提供了微米級別定位精度, 更換探針無需調(diào)節(jié)激光； 可以讓您更換探針后依然方便地找到樣品同樣的位置.