恒溫恒濕試驗箱*主要適用于電子、電器、光纖、LED、LCD、晶體、光電、電感、PCB、電腦、電池、手機、汽車配件等產(chǎn)品或材料做耐高溫、耐低溫、耐溫濕交變循環(huán)或恒定試驗。深圳恒溫恒濕試驗箱/高低溫和濕度試驗箱是指溫度范圍在-40℃至150℃中間可任意設(shè)定其中一個溫度做恒定做試驗,或者在-40℃至150℃之間的溫度里設(shè)定多個溫度做來做程序循環(huán)交變試驗的恒溫恒濕試驗箱。

恒溫恒濕試驗箱*

恒溫恒濕試驗箱由調(diào)溫（加溫、制冷）和增濕兩部分組成。通過安裝在箱體內(nèi)頂部的旋轉(zhuǎn)風扇，將空氣排入箱體實現(xiàn)氣體循環(huán)、平衡箱體內(nèi)的溫、濕度，由箱體內(nèi)置的溫、濕度傳感器采集的數(shù)據(jù)，傳至溫、濕度控制器（微型信息處理器）進行編輯處理，下達調(diào)溫調(diào)濕指令，通過空氣加熱單元、冷凝管以及水槽內(nèi)加熱蒸發(fā)單元的共同完成。 
恒溫恒濕箱溫度調(diào)節(jié)是通過箱體內(nèi)置溫度傳感器，采集數(shù)據(jù)，經(jīng)溫度控制器（微型信息處理器）調(diào)節(jié)，接通空氣加熱單元來實現(xiàn)增加溫度或者調(diào)節(jié)制冷電磁閥來降低箱體內(nèi)溫度，以達到控制所需要的溫度。恒溫恒濕箱濕度調(diào)節(jié)是通過體內(nèi)置濕度傳感器，采集數(shù)據(jù)，經(jīng)濕度控制器（微型信息處理器）調(diào)節(jié)，接通水槽加熱元件，通過蒸發(fā)水槽內(nèi)的水來實現(xiàn)增加箱體內(nèi)的濕度或者調(diào)節(jié)制冷電磁閥來實現(xiàn)去濕作用，以達到控制所需要的濕度。 
恒溫恒濕箱設(shè)有多重保護措施；溫度系統(tǒng)在可設(shè)定zui大安全允許溫度條件下，裝有過溫保護器，空氣加熱元件可隨旋轉(zhuǎn)風扇停止而自動斷電；加濕系統(tǒng)可隨加濕槽水位降低而停止供電；制冷系統(tǒng)也隨箱體溫度升高（超過40℃）或濕度的加大而停止工作。

恒溫恒濕試驗箱*

是指溫度范圍在-40℃至150℃中間可任意設(shè)定其中一個溫度做恒定做試驗,或者在-40℃至150℃之間的溫度里設(shè)定多個溫度做來做程序循環(huán)交變試驗的恒溫恒濕試驗箱。

滿足及符合如下標準：性能指標均符合GB5170、2、5-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求；電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB2423.1-2008；電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB2423.2-2008；電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-2008；電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-2008；電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗N 溫度變化試驗方法GB/T 2423.22-2002；GB/T 5170.2-2008《溫度試驗設(shè)備》；GB/T 5170.5-2008《濕熱試驗設(shè)備》；GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》；GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》；GB/T 10586-2006《濕熱試驗箱技術(shù)條件》。

標準配置:物料架2層,機體左側(cè)50mm測試孔1只,附不銹鋼孔蓋1只,濕布2片,硅膠塞頭1只,無容絲保險管2個,活動腳輪4個,固定腳杯4個。

溫度在-40到150度的恒溫恒濕試驗箱還有不同規(guī)格的標準機型和不同溫度范圍可供選擇；還可以根據(jù)客戶需求非標定制。