高溫高濕性能變化箱經(jīng)常用于研究或鑒定高分子材料耐老化性能的一種人工加速濕熱老化試驗，也可用來研究或?qū)嶒炌扑隳承└叻肿硬牧系氖褂脡勖唾A存期。它是將試驗物品暴露于潮濕的熱空氣環(huán)境中，經(jīng)受熱空氣(高溫)和水蒸汽(高濕)的作用，按預定時間檢測試樣的性能變化，從而評定各種工業(yè)產(chǎn)品的恒溫恒濕老化性能。恒溫恒濕老化試驗條件必須根據(jù)材料性能、使用條件及試驗目的要求加以確定。
選型資料：
常規(guī)型號有: AP-HX-80D；AP-HX-100D；AP-HX-150D；AP-HX-225D；AP-HX-408D；AP-HX-800D；AP-HX-1000D
工作室內(nèi)箱尺寸寬*高*深（cm）: 40*50*40；50*50*40；50*60*50；50*75*60；60*85*80；100*100*800；100*100*100；
設備內(nèi)箱尺寸寬*高*深（cm）約: 98*135*98；105*147*105；108*150*108；107*160*119；120*173*128；156*183*130；157*186*150；
功率: 因為不同的尺寸配不同的溫度范圍功率會有所不同，請根據(jù)愛佩廠家提供的技術規(guī)格書上的為準。
溫度可選擇范圍: A:0℃～150℃ B:-20℃～150℃ C:-40℃～150℃ D:-70℃～150℃（每個尺寸都可以配這些溫度范圍中的其中一段）
均勻度/波動度: ±2℃/±0.5℃
高溫恒溫前的升溫速率: 1.0～3.0℃/min
低溫恒溫前的降溫速率: 0.7～1.0℃/min
主要控制器: 進口LED數(shù)顯P.I.D + S.S.R.微電腦集成控制器(可編程)
精度范圍: 設定精度：溫度±0.1℃，指示精度：溫度±0.1℃，解析度：0.01℃
溫度傳感器: 鉑金電阻 PT100Ω/MV
高溫高濕性能變化箱執(zhí)行標準：
性能指標符合GB5170、2、3、5、6-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設備》的要求
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法
GJB150.9-1986《設備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗》
GJB4.5-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-2008（IEC68-2-3）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Da：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-2008(IEC68-2-30)