成都高低溫環(huán)境變化箱/低溫試驗(yàn)箱設(shè)備特點(diǎn)：1、該試驗(yàn)設(shè)備性能優(yōu)異，外觀美觀，可靠性好，是實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的理想選擇。
2、箱體內(nèi)膽采用不銹鋼板制成，外殼采用進(jìn)口鋼板噴塑。箱內(nèi)密封條采用耐高低溫的進(jìn)口硅橡膠制成，密封保溫性能優(yōu)良。
3、*的BTC平衡調(diào)溫方式，穩(wěn)定平衡的加熱能力，調(diào)節(jié)理想溫度環(huán)境，進(jìn)行高精度高穩(wěn)定的溫度控制。
4、具有隨溫度的設(shè)定數(shù)值自動(dòng)選擇運(yùn)轉(zhuǎn)制冷回路的功能，操作簡(jiǎn)單。
5、智

成都高低溫環(huán)境變化箱/低溫試驗(yàn)箱設(shè)備特點(diǎn)：1、該試驗(yàn)設(shè)備性能優(yōu)異，外觀美觀，可靠性好，是實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的理想選擇。

2、箱體內(nèi)膽采用不銹鋼板制成，外殼采用進(jìn)口鋼板噴塑。箱內(nèi)密封條采用耐高低溫的進(jìn)口硅橡膠制成，密封保溫性能優(yōu)良。

3、*的BTC平衡調(diào)溫方式，穩(wěn)定平衡的加熱能力，調(diào)節(jié)理想溫度環(huán)境，進(jìn)行高精度高穩(wěn)定的溫度控制。

4、具有隨溫度的設(shè)定數(shù)值自動(dòng)選擇運(yùn)轉(zhuǎn)制冷回路的功能，操作簡(jiǎn)單。

5、智能型高精度數(shù)顯PID微電腦溫度控制儀表，薄膜式按鍵，觸控式設(shè)定、數(shù)位及直

6、設(shè)有中空特制耐高、低溫導(dǎo)電加熱玻璃視窗，高亮度冷光源照明燈，可隨時(shí)觀察樣品情況。

7、設(shè)備采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來(lái)保持工作室內(nèi)溫度的均勻性，試驗(yàn)時(shí)試驗(yàn)樣品不會(huì)受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。

8、設(shè)備底部安裝高品質(zhì)可固定式PU活動(dòng)輪，可以很方便地將機(jī)器移到位置，耐磨無(wú)聲移動(dòng)、帶剎車功能。

9、加熱采用遠(yuǎn)紅外鎳鉻合金高速加溫電熱絲，高溫*獨(dú)立系統(tǒng)，不影響低溫試驗(yàn)。

10、制冷方式為機(jī)械制冷，冷凝方式為強(qiáng)制風(fēng)冷，加溫、降溫系統(tǒng)*獨(dú)立，干燥過(guò)濾器、冷媒流量視窗、修理閥、油分離器、電磁閥、貯液筒均采用原裝件。

成都高低溫環(huán)境變化箱/低溫試驗(yàn)箱設(shè)備技術(shù)參數(shù)：

1）低溫測(cè)試可選范圍：0℃~RT ，-20℃~RT ，-40℃~RT ，-60℃~RT ，-70℃~RT

2）測(cè)試區(qū)尺寸：(W×H×D)mm= 500×600×500或1000×600×500更多標(biāo)準(zhǔn)可選擇或非標(biāo)定制請(qǐng)致電愛(ài)佩公司業(yè)務(wù)部（18925571822）。

3）溫度偏差：±0.5℃

4）溫度均差：±2℃

5）升溫速率約:3℃/min

6）降溫速率約: 0.75~1℃/min

7）制冷劑：R23/R404A

8) 電源：AC 1∮，220V，50Hz，27A

注：  1）溫度傳感器設(shè)置于出風(fēng)口處   

2）溫度均勻度為：幾何中心點(diǎn)處，溫濕度時(shí)的所測(cè)之?dāng)?shù)據(jù)。

制冷、加熱及風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng):

1.制冷系統(tǒng)：選用全封閉法國(guó)泰康（或半封閉德國(guó)谷輪）壓縮機(jī)。采用風(fēng)冷單機(jī)壓縮/風(fēng)冷復(fù)疊壓縮制冷方式。

2.加熱系統(tǒng)：全獨(dú)立系統(tǒng)，鎳鉻合金電加熱式加熱器。

3.風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng):采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開(kāi)門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-2006-40℃高低溫實(shí)驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備