1.HDSF-S電子式多倍頻發(fā)生器純正弦波輸出；

      2.實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)高壓側(cè)電壓、電流、低壓測(cè)電壓、電流，功率部分實(shí)際溫度等；

      3. 硬件保護(hù)、源輸出過(guò)流保護(hù)、溫度保護(hù)、過(guò)壓保護(hù)、高壓電壓劇增、高壓電壓劇減、高壓電流劇增、高壓電流劇減等多重保護(hù)；

      4.HDSF-S電子式多倍頻發(fā)生器很快一個(gè)波形周期內(nèi)產(chǎn)生保護(hù)、切斷輸出；

      5.實(shí)時(shí)記錄高壓側(cè)電壓，方便分析高壓異動(dòng)情況，特別是故障時(shí)的實(shí)時(shí)電壓；

      6.觸摸大屏顯示加旋鈕編碼器，操作方便、靈活。

二、配置說(shuō)明參照表

      1.儀器液晶顯示屏：7寸彩屏。

      2.輸出頻率： 30～300Hz，頻率調(diào)節(jié)細(xì)度0.1 Hz

三：技術(shù)參數(shù)

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絕緣的擊穿電壓Uj 與加壓的持續(xù)時(shí)間有關(guān)，隨時(shí)間的增加其Uj 下降，因此規(guī)定了一分鐘。這一方面是為了觀察被試品情況，使有缺陷的絕緣來(lái)得及暴露（固體絕緣發(fā)生擊穿需要一定的時(shí)間）；另一方面不致于因?yàn)闀r(shí)間過(guò)長(zhǎng)而引起的不應(yīng)有的絕緣損害。
交流耐壓試驗(yàn)的加壓方法一般有：一是工頻耐壓，包括用常規(guī)的交流試驗(yàn)變壓器和工頻串、并聯(lián)諧振試驗(yàn)，可以對(duì)交流電動(dòng)機(jī)和發(fā)電機(jī)、絕緣子、斷路器、電流互感器等設(shè)備進(jìn)行；二是感應(yīng)耐壓試驗(yàn)，如變壓器、電磁式電壓互感器等，采用從二次加壓使得一次側(cè)感應(yīng)高壓的方法，它不僅可以考驗(yàn)被試品的主絕緣（繞組對(duì)地、相間、相對(duì)地），還可以考驗(yàn)縱絕緣（同一繞組的層間、匝間），通常采用100~400HZ的倍頻進(jìn)行；三是沖擊電壓試驗(yàn)，主要考驗(yàn)被試品耐受操作波過(guò)電壓和大氣過(guò)電壓下絕緣的承受能力，它分為操作波沖擊電壓試驗(yàn)和雷電沖擊電壓試驗(yàn)。
一般設(shè)備的選取和電壓的產(chǎn)生及測(cè)量：針對(duì)不同的被試設(shè)備，應(yīng)選取不同容量的耐壓裝置，因此首先必須計(jì)算電容電流，IC = ωCx Us，Us已有規(guī)定，而Cx要參閱資料或?qū)崪y(cè)。
在進(jìn)行發(fā)電廠和變電所的廠用系統(tǒng)比如CT和斷路器的交流耐壓時(shí)，采用武漢華頂電力設(shè)備有限公司生產(chǎn)在YD-50KV / 6KVA的一套、而耐電動(dòng)機(jī)時(shí)則需要用YD-15KV/10KVA的較大容量的試驗(yàn)變、在300或600MW機(jī)組的主封閉母線的耐壓中，則應(yīng)采用一套YD-100KV/50KVA的裝置來(lái)進(jìn)行，其試驗(yàn)電壓的選取若封母中有CT時(shí)應(yīng)按照CT 的耐壓等級(jí)、而發(fā)電機(jī)、變壓器、電力電纜耐壓時(shí)應(yīng)用串、并聯(lián)諧振裝置則已經(jīng)非常方便，串、并聯(lián)諧振即電流諧振，回路中電容電流和電感電流相互抵消，使得總低價(jià)電子式多倍頻發(fā)生器批發(fā)回路電流很小，則電源電纜的截面可小一些，其品質(zhì)因數(shù)Q可用試驗(yàn)電壓和被試電流的乘積除以調(diào)壓器的輸出電壓和電流的乘積得到，一般可達(dá)10~40左右，Q=XC/R，而回路中的限流電阻R應(yīng)盡量選小，否則調(diào)諧時(shí)很難達(dá)到諧振頻率；另外串聯(lián)諧振即電壓諧振，須采用激勵(lì)變壓器，而可調(diào)電感的耐壓等級(jí)應(yīng)和被試品一樣，因其串聯(lián)回路的電壓相互抵消，則激勵(lì)變的容量可降低Q 倍。至于試驗(yàn)電壓的測(cè)量，一般小電容量的被試品可只用變壓器低壓側(cè)電壓乘以變壓器變比即可得到，但大容量試驗(yàn)試品的試驗(yàn)電壓，還要考慮到容升低價(jià)電子式多倍頻發(fā)生器批發(fā)效應(yīng)和被試電壓的有效可靠，高壓側(cè)電壓的測(cè)定必須用合格的高壓測(cè)試儀進(jìn)行，容升效應(yīng)即在交流耐壓時(shí)容性電流在繞組上產(chǎn)生漏抗壓降，造成實(shí)際用到被試品上的電壓值超過(guò)按