Agilent（安捷倫） 4349B高阻表

東莞市誠(chéng)峻信電子儀器有限公司 總公司 

Agilent（安捷倫） 4349B高阻表

可同時(shí)對(duì)4通道多個(gè)被測(cè)件進(jìn)行測(cè)量，增加測(cè)試吞吐率。測(cè)量范圍1*103Ω 至 1x1015Ω，基本精度為2%，具有接觸檢查功能。

主要特性

測(cè)量參數(shù)：R（直流電阻）、I（直流電流）、ps（表面電阻率），pv（體電阻率）。

測(cè)量范圍：電阻1*103Ω 至 1x1015Ω；電流1pA至100uA。

測(cè)量速度：快9.5ms的測(cè)量時(shí)間。

基本測(cè)量精度：2%。

4個(gè)通道，可用于多個(gè)被測(cè)件，4個(gè)通道可同時(shí)測(cè)試。

接觸檢查功能：可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障，2毫秒/點(diǎn)，保證可靠的測(cè)試

可同時(shí)對(duì)4通道多個(gè)被測(cè)件進(jìn)行測(cè)量，增加測(cè)試吞吐率。測(cè)量范圍1*103Ω 至 1x1015Ω，基本精度為2%，具有接觸檢查功能。

主要特性

測(cè)量參數(shù)：R（直流電阻）、I（直流電流）、ps（表面電阻率），pv（體電阻率）。

測(cè)量范圍：電阻1*103Ω 至 1x1015Ω；電流1pA至100uA。

測(cè)量速度：快9.5ms的測(cè)量時(shí)間。

基本測(cè)量精度：2%。

4個(gè)通道，可用于多個(gè)被測(cè)件，4個(gè)通道可同時(shí)測(cè)試。

接觸檢查功能：可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障，2毫秒/點(diǎn)，保證可靠的測(cè)試