為您帶來的優(yōu)勢
 
共聚焦和干涉測量
共聚焦和干涉測量的雙核心技術(shù)具備高速測量和高分辨率的特點(diǎn)，分辨率為0.1nm-10nm。微觀顯示共聚焦技術(shù)
微觀顯示共聚焦技術(shù)使得同一視野的共聚焦和明場圖像可同時顯示。
干涉測量PSI和VSI
干涉測量PSI和VSI提供平滑表面的高精確度測量，具有超微觀的納米級分辨率。
 
DCM 3D系統(tǒng)采用雙核心技術(shù)，可用于微觀和超微觀表面結(jié)構(gòu)的快速、非侵入性測量。

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共聚焦和干涉測量
共聚焦和干涉測量的雙核心技術(shù)具備高速測量和高分辨率的特點(diǎn)，分辨率為0.1nm-10nm。微觀顯示共聚焦技術(shù)
微觀顯示共聚焦技術(shù)使得同一視野的共聚焦和明場圖像可同時顯示。
干涉測量PSI和VSI
干涉測量PSI和VSI提供平滑表面的高精確度測量，具有超微觀的納米級分辨率。
 
DCM 3D系統(tǒng)采用雙核心技術(shù)，可用于微觀和超微觀表面結(jié)構(gòu)的快速、非侵入性測量。