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詳細(xì)介紹
利用X射線熒光（XRF）進(jìn)行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質(zhì)量控制。
X-Strata是結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺(tái)式X射線熒光分析設(shè)備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
它在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力，可進(jìn)行多鍍層厚度的測量。
鍍層測厚儀X-Strata系列提供：
• 無損分析：無需樣品制備
• 經(jīng)行業(yè)認(rèn)證的技術(shù)和可靠性，確保每年都帶來收益
• 操作簡單，只需要簡單的培訓(xùn)
• 分析只需三步驟
• 杰出的分析準(zhǔn)確性和精確性
• 在鍍層測厚領(lǐng)域擁有超過20年的豐富經(jīng)驗(yàn)
使用功能*、操作簡單的X射線熒光光譜儀進(jìn)行鍍層厚度測量，保證質(zhì)量的同時(shí)降低成本。
產(chǎn)品優(yōu)勢
高性能、高精度、長期穩(wěn)定性
• 快速精確的分析帶來生產(chǎn)成本化
• 精確測定元素厚度
• 優(yōu)化的性能可滿足廣泛的元素測量
堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)
• 可靠近生產(chǎn)線或在實(shí)驗(yàn)室操作
• 生產(chǎn)人員易于使用
簡單的校準(zhǔn)調(diào)試
• 在沒有標(biāo)準(zhǔn)片時(shí)，經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法或基本參數(shù)法可以提供簡單可靠的定量結(jié)果
• 方法建立只需幾分鐘
• 我們提供認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)片以確保精確度（A2LA 和 ISO/IEC17025）
• 預(yù)置了多種校準(zhǔn)參數(shù)
可分析多種樣品形狀和尺寸
• 可分析多種樣品類型，從微小的電子元件到浴室配件
• 提供多種硬件供選配，滿足各種需要
行業(yè)及市場
電子行業(yè) - 有效控制生產(chǎn)過程，提高生產(chǎn)力
• 分析電子件上的金和鈀的厚度，例如Au/Ni/Cu，Au/Pd/Ni/Cu
• 測量線路板上的可焊性，比如Ag/Cu/Epoxy
五金電鍍行業(yè)- 電鍍表面處理的成本最小化，產(chǎn)量
• 多樣品和多點(diǎn)分析
• 單層或多層厚度測量
• 鍍液成份分析
貴金屬/金屬合金 - 珠寶及其他合金的快速無損分析
• 黃金分析及其他元素測定
• 貴金屬合金檢測
X-Strata920 - 三種配置選項(xiàng)
X-Strata920 - 三種配置滿足您的需要：
固定樣品臺(tái)
開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品，如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
經(jīng)濟(jì)、實(shí)用
平面樣品臺(tái)設(shè)計(jì)，適合高度不超過1.3"(33mm)的樣品分析
加深樣品臺(tái)
高度每英寸(25.4mm)可調(diào)，架構(gòu)式樣品艙可容納高度6.3"(160mm)的樣品
可以選4個(gè)樣品盤中任一個(gè)來盛放不同高度的樣品
開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品，如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
程控樣品臺(tái)
用于自動(dòng)化測量
方便根據(jù)測試位置放置樣品，并精準(zhǔn)定位測量點(diǎn)
開槽式樣品艙允許檢測大型平板樣品，如印制線路板
樣品臺(tái)尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (寬)
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