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Labthink蘭光推出CHY-CA新改款型測厚儀
在原有CHY-CA測厚儀的基礎(chǔ)上,Labthink蘭光的技術(shù)人員針對儀器外形與測量系統(tǒng)進(jìn)行開發(fā)與改制,推出CHY-CA新改款型測厚儀。
該測厚儀可廣泛應(yīng)用于單晶硅片、太陽能電池片、銅箔、古籍文獻(xiàn)等材料厚度的測試。測厚儀的測試幅面寬度擴(kuò)展到了400mm,更大的滿足了是樣檢測的幅面寬度的要求;測試分辯率高達(dá)0.1微米,除了具備高精度、寬范圍檢測等特點以外,還采用測量樣品自動前進(jìn)驅(qū)動系統(tǒng),大大提高了檢測效率,充分地滿足了用戶連續(xù)測試的要求,并且配有專業(yè)軟件支持,操作方面,人機(jī)交互友好。
如欲了解該款測厚儀詳細(xì)信息,請致電濟(jì)南蘭光咨詢!
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