Naneos Partector TEM納米顆粒采樣器，Partector TEM粒子采樣器是簡單性與*功能之間的結(jié)合：您可以將其用作簡單的調(diào)查工具，以快速識(shí)別工作場所中的納米顆粒來源。您也可以使用它直接將顆粒采樣到標(biāo)準(zhǔn)透射電子顯微鏡（TEM）網(wǎng)格中。當(dāng)涉及單顆粒分析時(shí)，TEM是*的分析技術(shù)。如果您擁有諸如TEM / SEM顯微鏡之類的輔助工具以進(jìn)一步查看粒度分布和顆粒形態(tài)以及/或用于分析被顆?；瘜W(xué)成分的分析儀器，那么Partector TEM將發(fā)揮最大的作用。

 

Naneos Partector TEM納米顆粒采樣器，Partector TEM粒子采樣器可讓您使用一臺(tái)儀器全面評(píng)估工作場所安全。Partector TEM采樣器是可以在線確定樣品覆蓋率并在達(dá)到優(yōu)覆蓋率時(shí)停止采樣的納米顆粒采樣器。它是一種綜合測量，允許首先進(jìn)行測量，然后僅在必要時(shí)進(jìn)行采樣。由于TEM沉積機(jī)制是由檢測到的濃度控制和監(jiān)視的，因此您再也不會(huì)有空的或超載的樣品。利用Google Earth Java工具，它可以顯示在哪里測量濃度。

 

微型輕巧

易于使用的按鈕采樣

TEM網(wǎng)格可通過6個(gè)網(wǎng)格支架輕松在現(xiàn)場更換

自動(dòng)確定優(yōu)采樣時(shí)間-因?yàn)樗梢詼y量納米顆粒的濃度，所以它知道何時(shí)停止采樣。

在線顯示當(dāng)前樣本覆蓋率

Google Earth Java工具可顯示在何處測量濃度

 

氣溶膠研究

過濾器測試

環(huán)境與氣候研究

環(huán)境監(jiān)控

室內(nèi)和工作場所空氣質(zhì)量測量

個(gè)人曝光