高精度薄膜厚度測(cè)厚儀CHY-5（高精度薄膜測(cè)厚儀，High precision film thickness gauge CHY-5）高精度薄膜測(cè)厚儀采用機(jī)械式測(cè)量方法，適用于塑料薄膜量程范圍內(nèi)各種材料的精確厚度測(cè)量。

 高精度薄膜測(cè)厚儀/機(jī)械接觸式測(cè)厚儀

高精度薄膜厚度測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)：
儀器型號(hào)：CHY-5
專業(yè)名稱：測(cè)厚儀
測(cè)量范圍：0-2mm （其他量程可定制）
分辨率 ：0.1um
測(cè)量速度：10 次/分（可調(diào)）
測(cè)量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜），200mm2（紙張）    注：薄膜、紙張任選一種
進(jìn)樣步矩：0 ～ 1300 mm(可調(diào))
進(jìn)樣速度 ：0 ～ 120 mm/s(可調(diào))
外形尺寸：450mm×340mm×390mm
重量：23kg

   應(yīng)用范圍：

    適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。

CHY-5滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 6672-2001 塑料薄膜和薄片厚度測(cè)定_機(jī)械測(cè)量法；

ASTM D374固體電絕緣材料厚度標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法；

ASTM D1777-1996(2002)  測(cè)量紡織材料的厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法；

ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 451.3、 GB/T 6547、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817等。