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詳細(xì)介紹
SOC-210 BDR 高精度BRDF測量儀
儀器特點(diǎn)：
※ 光譜范圍：0.35~14μm（基于檢測器選項）
※ 測量本底噪聲：<10-3sr-1
※ 可水平裝置粉末和液體樣品進(jìn)行測量
※ 重復(fù)性：＜本底噪聲的5％
※ 全自動測量四個角坐標(biāo)（Θ and Φ、入射及反射角）
※ 集成電控單元，用于快速處理、顯示和存儲數(shù)據(jù)
※ 自動帶通濾光輪，一次性測量十二種多光譜通道
※ 支持斯特林循環(huán)冷卻的MCT和InSb檢測器，可以無人值守地全自動數(shù)據(jù)采集，自動切換標(biāo)樣樣品測量
測量指標(biāo)：
全半球雙向反射分布函數(shù)（BRDF）
非偏振BRDF
線性偏振BRDF
雙向透射分布函數(shù)（BTDF）
應(yīng)用領(lǐng)域：
※ 航空工業(yè)
※ 國防
※ 航天
※ 行星探測
※ 涂層領(lǐng)域
※ 光學(xué)材料質(zhì)量控制
SOC-210 BDR 高精度BRDF測量儀技術(shù)參數(shù)：
項 目 | 參 數(shù) |
測量項目 | BRDF、BTDF |
光譜范圍 | 0.35~14μm |
角度范圍 | ? Incident polar: Theta i Θi = 0° to 85° |
角度精度 | 0.1° |
光譜濾波 | 標(biāo)準(zhǔn)商業(yè)化1英寸薄膜帶通濾光片 |
自動化 | Θi，Φi，Θr，Φr，光源孔徑，濾光輪和樣品/參照X極 |
光源 | Quartz halogen lamp, and silicon carbide glower |
檢測器 | Si, InGaAs, dual InSb/MCT |
本底噪聲 | <10-3sr-1 |
樣品尺寸 | 直徑1英寸圓片、粉末、液體 |
運(yùn)行 | PC控制，全自動測量 |
尺寸 | 53″W x 53″D x 75″H |
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