XTZ-7045SZ三目連續(xù)變倍體視顯微鏡

適用于研究人員制作標(biāo)準(zhǔn)定倍定標(biāo)顯微圖像、定倍定標(biāo)圖譜比對及論文發(fā)表。同時系統(tǒng)也可對所采集的圖像內(nèi)目標(biāo)進行直線、折線、圓、角度、面積等多種測量，可為研究檢驗人員研究電子元器件，芯片線路板、紡織印刷，農(nóng)林牧種子形態(tài)，固體粉末及液體中微顆粒，薄膜微孔提供精確的分析檢驗數(shù)據(jù)。

XTZ-7045SZ三目連續(xù)變倍體視顯微鏡采用*的鍍膜技術(shù)，觀察時具有*的亮度和襯度，以滿足 對透明封裝后的芯片特殊檢測標(biāo)準(zhǔn)的使用要求。 具有高分辨率,高清晰度和強立體感等特點。適用于電子線路板、芯片封裝、珠寶鑒定、研相礦本分析、微小精密零件品質(zhì)控制、裝配、銀行痕跡對比、教學(xué)示范、臨床手術(shù)樣本、農(nóng)業(yè)選種，紡織品檢驗、養(yǎng)殖業(yè)品種優(yōu)選、病理分析。

性能特點：

1、上下光源，可觀察不透明、半透明和透明物體

2、采用高眼點廣角目鏡，視場范圍大、視場平坦

技術(shù)參數(shù)

 成像系統(tǒng)配置：