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PHI 4700 AES俄歇分析儀 詳細(xì)摘要： PHI 4700 AES俄歇分析儀在開(kāi)發(fā)新材料及薄膜制程上，為了有助于了解材料組成間的相互作用及解決工藝流程的問(wèn)題，材料組成或薄膜迭層的深度分析是非常重要的。
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-08-01 參考價(jià)： 面議 在線(xiàn)留言 -
PHI 700Xi 俄歇電子能譜儀掃描俄歇納米探針 詳細(xì)摘要： PHI 700Xi 俄歇電子能譜儀掃描俄歇納米探針提供高性能的俄歇（AES）頻譜分析，俄歇成像和濺射深度分析的復(fù)合材料包括：納米材料，催化劑，金屬和電子設(shè)備。維...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-08-01 參考價(jià)： 面議 在線(xiàn)留言 -
賽默飛 MICROLAB 350場(chǎng)發(fā)射俄歇電子譜儀 詳細(xì)摘要： 賽默飛 MICROLAB 350場(chǎng)發(fā)射俄歇電子譜儀是一款高性能的，具有高靈敏度和高能量分辨率掃描俄歇電子能譜儀（AES）。 SEM分辨率7納米和掃描俄歇映射（S...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-08-01 參考價(jià)： 面議 在線(xiàn)留言