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詳細介紹
產品簡介
三綜合試驗箱是模擬GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術條件、GB/T10589-2008低溫試驗箱等技術條件；GB/T11158-2008高溫試驗箱技術條件制造，主要為航天、航空、石油、化工、軍事、汽車（摩托車）、船舶、電子、通訊等科研及生產單位提供溫濕度變化環(huán)境，模擬試品在溫濕度變化環(huán)境條件下加載模擬振動的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產品篩選等。本試驗箱適用于對產品（整機）、零部件、材料進行高溫、低溫、高低溫循環(huán)試驗，以及恒定濕熱和交變濕熱試驗。
技術參數
1、工作室尺寸 | 3000×3000×3000mm (深×寬×高) |
2、外形尺寸 | 根據現場安裝確定尺寸 |
3、溫度范圍 | -50℃～+130℃ |
| 4、溫度波動度 | ≤±0.5℃ |
| 5、溫度均勻度 | ≤±2℃ |
| 6、溫度偏差 | ≤±2℃ |
| 7、升溫速率 | -50℃到130℃，≤60min（全程平均值） |
| 8、降溫速率 | 20℃到-50℃，≤80min（全程平均值） |
9、濕度范圍 | 20%R.H～98%R.H |
10、濕度偏差 | ≤±3%RH (>75%RH) ；≤±5%RH (≤75%RH) |
| 11、濕度波動度 | ≤±2%RH |
| 12、配接振動臺尺寸 | 1200mm×1200mm |
| 13、滿足標準 | GB10586-2006濕熱試驗箱技術條件； GB10592-2008高、低溫試驗箱技術條件； GB/T 2423.1-2008電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法； GB/T 2423.2-2008電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法； GB/T 2423.3-2006電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Cab： 恒定濕熱試驗方法； GB/T 2423.4-2008電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗Db： 交變濕熱 |
| 14、驗收方法及依據 | GB/T5170.1-2008 電工電子產業(yè)環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則； GB/T5170.2-2008電工電子產業(yè)環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備； GB/T5170.5-2008電工電子產業(yè)環(huán)境試驗設備檢驗方法 濕度試驗設備； GB/T5170.18-2005電工電子產業(yè)環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設備； GB/T5170.19-2005電工電子產業(yè)環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度/振動（正弦）綜合試驗設備； JJF1270-2010 溫度、濕度、振動綜合環(huán)境試驗系統(tǒng)校準規(guī)范； JJF1101-2003 環(huán)境試驗設備溫度、濕度校準規(guī)范。 |
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