產(chǎn)品名稱：
快速溫交變(濕)熱試驗箱.

產(chǎn)品型號：
KWB(S)

產(chǎn)品特點：
適用于電工、電子產(chǎn)品整機及零部件進(jìn)行耐寒試驗、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗。特別適用于進(jìn)行電工、電子產(chǎn)品以及其原器件的環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）試驗
該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗用。

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
GB 10589-2008 《低溫試驗箱技術(shù)條件》
GB 11158-2008 《高溫試驗箱技術(shù)條件》
GB 10592-2008 《高低溫試驗箱技術(shù)條件》
GB2423.1-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法》
GB2423.2-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法》
GB2423.4-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Db:交變試驗方法》
GB2424.1-2005 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則》
GB2423.22-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法》
GB/T5170.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備》
GB2423.3－2008試驗C《恒定濕熱試驗方法》;
GB2423.4－93試驗D《交變濕熱試驗方法》
GJB1032-90環(huán)境應(yīng)力篩選方法