~K-PATENTS折光儀
芬蘭K-PATENTS公司設計的衛(wèi)生型折光儀用于食品行業(yè)可以廣泛地測量各種食品的Brix糖和濃度以及其它行業(yè)： 測量的滿量程是0-100Brix ；精度可達+/- 0.0002折光率或對應重量的+/- 0.1 % ；快速溫度測量（6S）自動溫度補償 ；顆粒、氣泡和顏色對測量精度沒有任何影響；所有傳感器的光學部件都置于CORE光學模塊內。

K-PATENTS折光儀
芬蘭K-PATENTS公司設計的衛(wèi)生型折光儀用于食品行業(yè)可以廣泛地測量各種食品的Brix糖和濃度以及其它行業(yè)： 測量的滿量程是0-100Brix ；精度可達+/- 0.0002折光率或對應重量的+/- 0.1 % ；快速溫度測量（6S）自動溫度補償 ；顆粒、氣泡和顏色對測量精度沒有任何影響；所有傳感器的光學部件都置于CORE光學模塊內。~K-PATENTS折光儀

數字原理：傳感器一旦根據需要校準后，永遠不用校準；采用特氟綸和陶瓷材料進行有效傳熱和絕緣，保證在高溫和高壓下進行安全操作（max. 130°C/266°F）。

K-PATENTS折光儀

焦鏡頭
數值儲存 帶數值儲存器
電源供給 6 X 1.5V或6 X 1.2V 電池
操作溫度 0 - 50℃
重量 1200克 （ 帶電池）
安全等級 IP52
供貨范圍 測溫儀，一套電池，一個塑料箱
可選附件 聚焦鏡頭
充電器，便攜式打印機，RS 232連接電纜及PortaWin軟~~K-PATENTS折光儀