PRINCO料位計(jì)
TESTO 875-2 經(jīng)濟(jì)型紅外熱像儀—于日常故障排查的熱像儀。

TESTO 875-2 經(jīng)濟(jì)型紅外熱像儀—于日常故障排查的熱像儀。
TESTO 全新推出的 TESTO 875-2 紅外熱成像儀是目前市場(chǎng)上性價(jià)比高的紅外熱成像儀，高清晰的成像效果，分析軟件，*的售后服務(wù)，全面協(xié)助您實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單測(cè)量。
TESTO 875-2 經(jīng)濟(jì)型紅外熱成像儀，熱靈敏度<80mK，具有良好的現(xiàn)場(chǎng)成像及分析功能。

~PRINCO料位計(jì)
L2000C射頻導(dǎo)納控制器是生產(chǎn),是在美國(guó)普林柯公司射頻導(dǎo)納物位控制器的基礎(chǔ)上,研究和開發(fā)的產(chǎn)品。

L2000C射頻導(dǎo)納控制器是生產(chǎn),是在美國(guó)普林柯公司射頻導(dǎo)納物位控制器的基礎(chǔ)上,研究和開發(fā)的產(chǎn)品。
  L2000C射頻導(dǎo)納控制器運(yùn)用美國(guó)普林柯抗粘附線路設(shè)計(jì),可以探測(cè)真實(shí)物位的同時(shí),消除粘附和懸掛在探頭周圍的假物位信號(hào)影響。我們還自主采用國(guó)外的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)技術(shù),使電子線路參數(shù)更加穩(wěn)定、可靠,使用壽命更加長(zhǎng)。

PRINCO料位計(jì)
  L2000C射頻導(dǎo)納料位計(jì)的探頭部分通過一系列的市場(chǎng)調(diào)研,研究采用了探頭直徑達(dá)到10mm,保護(hù)套長(zhǎng)150mm,總長(zhǎng)450mm,使探頭更堅(jiān)固、更實(shí)用、更可靠。同時(shí),自主開發(fā)L890平板探頭、解決了大固體塊料沖擊探棒的問題,并且,也生產(chǎn)L863WC鋼纜探頭和L864C陶瓷高溫探頭,使L2000C的使用對(duì)象從液體、粉料擴(kuò)展到高溫、大固體塊料。
L2000C射頻導(dǎo)納料位計(jì)工作原理
工作原理是基于射頻(RF)電容技術(shù)。將一個(gè)無線電頻率施加在探頭上,通過連續(xù)的分析,確定由周圍環(huán)境造成的影響。因所有材料均具有介電常數(shù),而且其導(dǎo)電率都不同于空氣,當(dāng)探頭與材料接觸時(shí)由于微小電容量偏移所反映的總阻抗發(fā)生變化。因?yàn)橥姷奶筋^和容器壁構(gòu)成電容器的二塊極板,探頭的絕緣體和周圍空氣成為介電材料,當(dāng)空氣(其介電常數(shù)為1．o)被任何其它材料價(jià)電常數(shù),>1)置換時(shí),電容效應(yīng)得以加強(qiáng)。從而改變了應(yīng)用場(chǎng)合的阻抗。即電容值的變化造成了阻抗的變化。這一影響被電路測(cè)量后,再與由靈敏度設(shè)置(電路)建立的參考基準(zhǔn)相比較。靈敏度正確設(shè)置會(huì)影響傳感器輸出正確變化。探頭的抗粘附電路可以使測(cè)量電路對(duì)探頭上堆積的物料忽略不計(jì)的無線電頻率電位激勵(lì)。由于電流不能在相同的電位下流動(dòng),抗粘附電路就隔斷了通常從通電的探頭經(jīng)過堆積的物料到容器壁的電流流動(dòng)。這樣測(cè)量到的是通電探頭周圍的物料,而不是粘附堆積的物料。
L2000C射頻導(dǎo)納料位計(jì)技術(shù)參數(shù)
繼電器容量：DPDT,額定2A,220Vac或1.5A,28VDC
延時(shí)：0-30秒連續(xù)可調(diào)
電源：220Vac或24V/dc
功率：3W
感應(yīng)度：0．3pF-800pF
物料溫度：-80℃至180℃（大于180℃可用高溫探頭）
電路耐溫：-40℃至66℃
失電保護(hù)：高低模式,現(xiàn)場(chǎng)可調(diào)
外殼：IP65,重型鑄鋁外殼
L2000C射頻導(dǎo)納料位計(jì)探頭參數(shù)
安裝螺紋：l＂NPT
探頭材料：不銹鋼、Teflon
接液介質(zhì)：不銹鋼
電氣接口：PGll或3／4＂NPT~~PRINCO料位計(jì)