技術(shù)參數(shù)

1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根據(jù)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射線熒光測試方法； 
2.原始射線從上至下； 
3.微聚焦X-射線管高壓設(shè)定可調(diào)節(jié)至 的應(yīng)用：50kV，40kV或30kV； 
4.標(biāo)準(zhǔn)視準(zhǔn)器組：圓形0.1/0.2/0.3和長方形0.05X0.3mm； 
5.測量箱外部尺寸：（高×寬×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大約為105kg（120lbs）； 
6.帶槽箱體的內(nèi)部尺寸：（高×寬×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）帶向上回轉(zhuǎn)箱門； 
7.嵌入式固定的測試件支承板，需要時(shí)可移去以適用于大件的超出尺寸的測試工件； 
8.電機(jī)驅(qū)動(dòng)的144mm（5.7〞）X-射線頭部（X-射線管，比例接收器及視準(zhǔn)器）的Z軸運(yùn)行； 
9.試件查看用彩色攝像機(jī) 
10.測量開始/結(jié)束按鈕，X-射線頭部上/下按鈕及LED狀態(tài)指示燈與測試箱集成在一體。

主要特點(diǎn)

FISCHERSCOPE® XDLM®-C4 是一款基于Windows™ 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下。 

微聚焦X-射線管以及電機(jī)帶動(dòng)的有4個(gè)不同尺寸視準(zhǔn)器組成的視準(zhǔn)器組使得XDLM®-C4成為測量大批量生產(chǎn)部件的理想測量儀器，例如螺絲，螺母和螺栓?？蛇x擇的鈷接收器有效地解決銅上鍍鎳的測量應(yīng)用問題 

XDLM®的特色是*的距離修正測量方法。DCM方法（距離控制測量）自動(dòng)地修正在不同的測量距離上光譜強(qiáng)度的差別，簡便了測量復(fù)雜幾何外形的測試工件和在不同測量距離上的測量。 

與WinFTM® V.6軟件及校樣標(biāo)準(zhǔn)塊Gold Assay結(jié)合，XDLM®作為FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分， *地適用于快速，非破壞性和精確的測量珠寶及貴金屬中金的成分。

適用于Windows®2000或選擇適用于Windows® XP的真Win32位程序帶在線幫助功能 
頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的應(yīng)用 
能通過“應(yīng)用工具箱”(由一個(gè)帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊組成)使應(yīng)用的校準(zhǔn)簡單化 
畫中畫測試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動(dòng)焦距功能放大試件圖像；計(jì)算機(jī)生成的刻度化的瞄準(zhǔn)十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離） 
圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報(bào)告中 
對試件與視準(zhǔn)器之間的距離進(jìn)行視覺控制的校正（DCM方法）范圍可達(dá)80mm(3.2〞) 
測量模式用于： 單、雙及三層鍍層系統(tǒng) 
         雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量 
         雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析（兩層的厚度 
         和合金成分都能被測量) 
能分析多達(dá)四種金屬成分的合金，包括金的開數(shù)分析的特殊功能。對電鍍?nèi)芤旱姆治瞿芰蛇_(dá)包含一或二種陽離子的電鍍液。 
可通過RS-232接口或使用網(wǎng)絡(luò)環(huán)境控制命令設(shè)定數(shù)據(jù)的輸出和輸入以實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的遠(yuǎn)程控制。 
通過使用可選擇的帶合成條形碼讀入器的鍵盤實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品選擇。 
可編程的應(yīng)用項(xiàng)圖標(biāo)，用于快速產(chǎn)品選擇。 
完整的統(tǒng)計(jì)功能，SPC圖，標(biāo)準(zhǔn)的概率圖和矩形圖評估。 
報(bào)告生成，數(shù)據(jù)輸出 
語言可選擇：英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，及中文 
菜單中的某些選擇項(xiàng)可使用

德國FISCHER公司X-RAY熒光測厚儀

HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。通過對所有相關(guān)過程包括X射線熒光測量法的精確處理和使用了的軟件和硬件技術(shù)，F(xiàn)ISCHER公司的X射線儀器具有其*的特點(diǎn)。

*的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測量精度的情況下測量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)，同時(shí)可以對包含多達(dá)24種元素的材料進(jìn)行分析（使用WinFTM® V.6軟件）

典型的應(yīng)用范圍如下：

l 單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

l 二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。

l 三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。

l 雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

l 雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

l zui多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。

l 分析多達(dá)4種（或24種－使用V.6軟件）元素。

l 分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。

FISCHERSCOPE® XUL®

FISCHERSCOPE® XUL®設(shè)計(jì)為X-射線管和探測器系統(tǒng)位于測量臺下部。因此測量方向從下往上。這也就提供了一個(gè)重要的優(yōu)點(diǎn)，尤其對于測量各種不同幾何外形的小工件，例如螺絲、螺母、螺栓或各種各樣的電連接器。在絕大多數(shù)情況下，被測試工件的表面可直接放置于測量臺上，這就避免了在從上往下測量系統(tǒng)中需要的測量距離調(diào)整。測試點(diǎn)會(huì)自動(dòng)地調(diào)整在正確的距離上。這就加快了測量的過程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的測量誤差。- FISCHE是 一家實(shí)現(xiàn)了這種設(shè)計(jì)的X-射線熒光鍍層厚度測試儀器的制造廠商。

與WinFTM® V.6 軟件及校樣標(biāo)準(zhǔn)塊Gold Assay配合，XUL® 作為FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分，可以*地適應(yīng)于快速，非破壞性和精確的測量珠寶及貴金屬中金的成分。

COSMOS-1X

適合測定物zui精良的測定條件設(shè)定（高精度測定）

采用二種濾波器

采用數(shù)位式濾波器外另有機(jī)械式濾波器（兩種濾波器）在測不定期時(shí)，若是zui適當(dāng)?shù)臈l件下，經(jīng)常可得到zui高的精度。

準(zhǔn)值儀5種孔徑內(nèi)藏式

zui小的準(zhǔn)值儀孔徑僅0.1 mm，可測定極微小的部品。

標(biāo)準(zhǔn)：0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另備有2種特別規(guī)格可供選購。

0.05,0.1,0.2,0.3,0.5

0.05*0.5,0.1,0.2,0.3,0.5

*的表示機(jī)能

（MS—WINDOWS規(guī)格）

與IBM PC相容個(gè)人電腦

使用與IBM PC相容個(gè)人電腦，采用MS-WINDOWS軟體，使用時(shí)資源豐富，多彩多姿。

測定部顯示盡像的表示

X線照射部可由WINDOWS盡面上取得照射部的表示。

從準(zhǔn)值儀照射測定物的位置，可由倍率變更機(jī)能來實(shí)現(xiàn)盡面上測出物放大。

在膜厚測定中的能譜表示

由多頻分析器可快速處理能譜分析?？蓤?zhí)行測定的能譜分析表示，操作簡單。

提升資料處理的速度

充實(shí)測量報(bào)告的作成機(jī)能

采用MS-WINDOW軟件，測定盡面的擷取，非常簡便，可充實(shí)測量報(bào)告的制作機(jī)能?？赏瑫r(shí)間處理多項(xiàng)工作，機(jī)器在測量中亦可處理其他工作；包括如測量報(bào)告的制作。

獲得安心的保證性

自己診斷及X線管保食機(jī)能

自己診斷機(jī)能，迅速的對策來排除機(jī)器的困擾。附有X線管的使用時(shí)間及耐久時(shí)間表示機(jī)能，可加強(qiáng)維保食的安全性。

機(jī)種各別的規(guī)格